[发明专利]一种质子重离子束流纵向束团形状测量探测器

摘要

本发明涉及加速器束流诊断、束流测量、纵向束团形状测量技术领域，尤其是涉及一种质子重离子束流纵向束团形状测量探测器。包括探测器主体和设置在其上的微波带状线结构，所述的探测器主体包括法兰，钽铜复合板通过支撑架与法兰相连，法兰和钽铜复合板之间还设置有水冷管，所述的微波带状线结构设置在钽铜复合板内侧，微波带状线结构固定在微波带状线底板上，微波带状线结构上下分别设置有转接器，所述的微波带状线结构包括介质基板，介质基板上下分别设置有上层地和下层地，介质基板上设置有定位孔、第一金属化过孔和第二金属化过孔，带状线导带和微带线导带设置在介质基板上。其结构紧凑，易于加工，易于操作控制，时间分辨率高，抗干扰性强。

主权项

一种质子重离子束流纵向束团形状测量探测器，其特征是包括探测器主体和设置在其上的微波带状线结构，所述的探测器主体包括法兰，钽铜复合板通过支撑架与法兰相连，法兰和钽铜复合板之间还设置有水冷管，所述的微波带状线结构设置在钽铜复合板内侧，微波带状线结构固定在微波带状线底板上，微波带状线结构上下分别设置有转接器，所述的微波带状线结构包括介质基板，介质基板上下分别设置有上层地和下层地，介质基板上设置有定位孔、第一金属化过孔和第二金属化过孔，带状线导带和微带线导带设置在介质基板上。