[发明专利]一种Mura缺陷检出方法

摘要

本发明公开一种Mura缺陷检出方法，包括以下步骤：手动将液晶面板的矩形检查区域根据实际缺陷的类型移动到面板的对应缺陷位置，同时设定检查区域大小；根据实际缺陷的类型将移动好的检查区域手动等分成若干个小区块；分割好区块后，采集每个区块中各CCD的辉度值，再计算出各区块的平均辉度值、辉度最大值、辉度最小值、辉度标准偏差值这四个参数；计算出上述参数后通过比较之后将异常参数的区块检出，即为缺陷所在的精准位置。本发明解决了液晶面板制造业中不定性、不规则Mura及突发不良Mura这类缺陷的漏检问题，并在实际应用中检出效果明显，提升了Mura检出能力，更加有效精准。

主权项

1.一种Mura缺陷检出方法，其特征在于：包括以下步骤：/n(1)手动将液晶面板的矩形检查区域根据实际缺陷的类型移动到面板的对应缺陷位置，同时检查区域的大小根据实际需求设定；/n(2)根据实际缺陷的类型将移动好的检查区域手动等分成若干个小区块，同时检查区域横纵方向的区块个数可随意调节，将缺陷较好地锁定在固定的区块内进行检查；/n(3)分割好区块后，利用CCD相机拍摄液晶面板后采集每个区块中各CCD相机的辉度值，再计算出各区块的平均辉度值、辉度最大值、辉度最小值、辉度标准偏差值这四个参数；/n(4)计算出上述参数后根据实际缺陷类型，选取合适的参数进行比对，辉度标准偏差值反映了一个区块的辉度波动情况，波动越大说明辉度值不均匀，必定有缺陷存在，通过比较之后将异常参数的区块检出，即为缺陷所在的精准位置；/n其中，合适的参数是指：当步骤(3)中计算得到四个参数后，比较缺陷所在区块的四个参数与其他无缺陷区块的四个参数间，找出存在明显差异的参数，从而将相应参数选定为该缺陷的设定参数，即为合适的参数；/n所述步骤(3)中/n平均辉度值：/n辉度最大值：x_max＝max(x₁、x₂、x₃、x₄…x_k)；/n辉度最小值：x_min＝min(x₁、x₂、x₃、x₄…x_k)；/n标准偏差值：/n其中，为平均辉度值；x₁、x₂、x₃、x₄…x_k分别指各CCD辉度值；k为区块内CCD个数，取值范围为实际区块内的个数；x_max为辉度最大值；x_min为辉度最小值；s为标准偏差值；x_i是指各CCD辉度值。/n