[发明专利]一种双通道傅里叶光谱仪及探测方法有效
申请号: | 201611020800.5 | 申请日: | 2016-11-17 |
公开(公告)号: | CN106546335B | 公开(公告)日: | 2018-04-03 |
发明(设计)人: | 李立功;孟鑫;韩顺利;张志辉;刘加庆;江升;吴威;张鹏;聂建华 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 |
主分类号: | G01J3/45 | 分类号: | G01J3/45 |
代理公司: | 济南圣达知识产权代理有限公司37221 | 代理人: | 张勇 |
地址: | 266555 山东省*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明公开了一种双通道傅里叶光谱仪及探测方法,包括沿光路方向依次设置的准直物镜、双通道干涉仪、第一探测模块、第二探测模块及数据处理系统,所述第一探测模块和第二探测模块都与数据处理系统连接;所述双通道干涉仪包括共光轴顺时针依次设置的分束镜、第一棱镜、第一反射镜、第二反射镜和第二棱镜,所述分束镜与入射光轴成45°,第一反射镜和第二反射镜与分束镜平行;所述第一棱镜能绕棱镜中心垂直于纸面的轴转动或摆动。能够同时获取探测点(目标)发出光束的两路干涉信息,从中能够解调出探测点光强随时间的变化量,进而有效的消除探测点光强变换对干涉信息的影响,复原探测点准确的光谱信息。 | ||
搜索关键词: | 一种 双通道 傅里叶 光谱仪 探测 方法 | ||
【主权项】:
一种双通道傅里叶光谱仪,其特征是,包括沿光路方向依次设置的准直物镜、双通道干涉仪、第一探测模块、第二探测模块及数据处理系统,所述第一探测模块和第二探测模块都与数据处理系统连接;所述双通道干涉仪包括共光轴顺时针依次设置的分束镜、第一棱镜、第一反射镜、第二反射镜和第二棱镜,所述分束镜与入射光轴成45°,第一反射镜和第二反射镜与分束镜平行;所述第一棱镜能绕棱镜中心垂直于纸面的轴转动或摆动;探测点发出的光线经过准直物镜形成平行光束,经过分束镜后分为第一反射光和第一透射光;第一反射光首先经过第一棱镜后入射到第一反射镜,发生反射后再次入射分束镜,随后被分束镜分为第二反射光和第二透射光,第二反射光进入第一探测模块,第二透射光进入第二探测模块;第一透射光首先经过第二棱镜入射到第三反射镜,发生反射后再次入射分束镜,随后被分束镜分为第三反射光和第三透射光, 第三反射光进入第二探测模块,第三透射光进入第一探测模块。
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