[发明专利]半导体激光器光源体最佳温度检测方法有效
| 申请号： | 201611005349.X | 申请日： | 2016-11-15 |
| 公开（公告）号： | CN106370395B | 公开（公告）日： | 2019-06-07 |
| 发明（设计）人： | 谭翠兰 | 申请（专利权）人： | 江汉大学 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00;G05D23/24 |
| 代理公司： | 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 | 代理人： | 俞鸿 |
| 地址： | 430056 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种半导体激光器光源体最佳温度检测方法，其特征在于包括以下步骤：中央控制器检测不同温度下光源体的光强信号，获得光源体温度与光强的对应曲线；在光源体温度与光强的对应曲线的拐点处温度值为中间值取多个指定温度；中央控制器控制光源体达到某一个指定温度时发送纠偏电压，由此获得每一个指定温度对应有各自的纠偏电压和光检电压的对应曲线；计算每个纠偏电压和光检电压的对应曲线中光检电压为最大值和最小值的两点之间的斜率；选取最大斜率对应的指定温度最为光源体的控温温度。本发明的目的就是针对现有技术的缺陷，提供一种半导体激光器光源体最佳温度检测方法，有效获得光源体最佳工作状态。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体激光器 光源 最佳 温度 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种半导体激光器光源体最佳温度检测方法，其特征在于包括以下步骤：中央控制器检测不同温度下光源体的光强信号，获得光源体温度与光强的对应曲线；在光源体温度与光强的对应曲线的拐点处温度值为中间值取多个指定温度；中央控制器控制光源体达到某一个指定温度时发送纠偏电压至激光器模块，由此获得每一个指定温度对应有各自的纠偏电压和光检电压的对应曲线；计算每个纠偏电压和光检电压的对应曲线中光检电压为最大值和最小值的两点之间的斜率；选取最大斜率对应的指定温度作为光源体的控温温度。
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