[发明专利]一种LED外延超晶格生长方法有效

专利信息
申请号: 201611004577.5 申请日: 2016-11-15
公开(公告)号: CN106409999B 公开(公告)日: 2018-11-27
发明(设计)人: 徐平 申请(专利权)人: 湘能华磊光电股份有限公司
主分类号: H01L33/04 分类号: H01L33/04;H01L33/14;H01L33/00
代理公司: 长沙七源专利代理事务所(普通合伙) 43214 代理人: 郑隽
地址: 423038 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 本申请公开了一种LED外延超晶格生长方法,依次包括:处理衬底、生长低温缓冲层GaN、生长不掺杂GaN层、生长掺杂Si的N型GaN层、生长InAlN/Mg2N3超晶格层、生长发光层、生长P型AlGaN层、生长掺杂Mg的P型GaN层、降温冷却。在所述生长掺杂Si的N型GaN层之后、所述生长发光层之前,引入InAlN/Mg2N3超晶格层,能够扩展LED电流,提升LED的发光效率,同时使得LED的各项电性参数变好。
搜索关键词: 一种 led 外延 晶格 生长 方法
【主权项】:
1.一种LED外延超晶格生长方法,其特征在于,依次包括:处理衬底、生长低温缓冲层GaN、生长不掺杂GaN层、生长掺杂Si的N型GaN层、生长发光层、生长P型AlGaN层、生长掺杂Mg的P型GaN层、降温冷却,在所述生长掺杂Si的N型GaN层之后、所述生长发光层之前,还包括:生长InAlN/Mg2N3超晶格层,所述生长InAlN/Mg2N3超晶格层,具体为:保持反应腔压力480mbar、保持温度950℃,通入流量为40000sccm的NH3、250sccm的TMAl、100L/min‑130L/min的N2、1800sccm的TMIn,生长厚度为10nm‑20nm的InAlN层;保持反应腔压力480mbar、保持温度950℃,通入流量为55000sccm的NH3、120L/min的H2、2000sccm的Cp2Mg生长5‑15nm的Mg2N3层;周期性生长所述InAlN层和所述Mg2N3层,生长周期为10‑20,或者,在上述相同工艺条件下,先生长所述Mg2N3层,再生长所述InAlN层,然后周期性循环10‑20个周期。
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