[发明专利]一种芯片输入引脚测试方法和装置

摘要

本发明提供了一种芯片输入引脚测试方法和装置，所述方法根据控制信号来切换当前芯片所处的模式，并输入激励序列至芯片的待测引脚，而后通过采样单元将待测引脚接收到的数值存储于存储单元中，再通过待测引脚对应的输出引脚(输出功能良好的、与待测引脚对应的另一引脚)输出存储单元的值，并在校验单元将输出的值与预设输出值镜像比较，从而自动校验芯片待测引脚的输入功能是否正常，使得测试在芯片处于裸片阶段下即可进行，相当于整机测试的方式，大大降低了测试成本。此外，输入的激励序列完全可以根据实际需求自定义确认,具有很高的灵活性和故障检测覆盖率。

主权项

1.一种芯片输入引脚测试装置，所述芯片包括至少一个待测引脚，其特征在于，所述装置包括输出值设置单元、模式设置单元、引脚设置单元、激励生成单元、采样单元、存储单元、输出单元和校验单元；所述输出值设置单元用于设置输出预设值；所述模式设置单元用于接收测试信号，让芯片处于测试模式，所述引脚设置单元用于将芯片的待测引脚设置为输入状态；所述激励生成单元用于生成激励序列，并将激励序列传输至芯片的待测引脚；生成的激励序列与输出预设值相同，所述激励序列包括至少一位数值，每一待测引脚对应接收激励序列中的一位数值；所述模式设置单元还用于接收采样信号，让芯片处于采样模式，所述采样单元用于对每一待测引脚对应接收的数值进行采样，并将采样结果存储于存储单元中；所述模式设置单元用于接收采样输出信号，让芯片处于采样输出模式，所述输出单元用于将存储单元中存储的采样结果通过输出引脚传输至校验单元，每一待测引脚对应一输出引脚，输出引脚用于输出一位数值；所述校验单元用于判断输出单元输出的数值与输出预设值是否相同，若是则校验通过，否则校验不通过；所述激励序列为由数值“0”或“1”组成的序列。