[发明专利]框胶固化率测试样品的制备方法及框胶固化率测试方法在审
| 申请号： | 201610989052.5 | 申请日： | 2016-11-09 |
| 公开（公告）号： | CN106370616A | 公开（公告）日： | 2017-02-01 |
| 发明（设计）人： | 巫景铭;钟兴进;张小新 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/3563 | 分类号： | G01N21/3563;G02F1/13;G02F1/1339 |
| 代理公司： | 深圳市德力知识产权代理事务所44265 | 代理人： | 林才桂 |
| 地址： | 518132 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种框胶固化率测试样品的制备方法以及框胶固化率测试方法，其通过砂纸擦拭去除覆盖在框胶上的黑色矩阵，采用红外光谱仪分别获取框胶和生胶的红外光谱图，并选定框胶和生胶的参考峰和目标峰，从而根据反应前后目标峰及参考峰的面积变化来计算框胶固化率，操作简单，成功率高，制得的框胶固化率测试样品表面干净、无黑色矩阵残留，固化率测试结果的准确度高，能够提高框胶固化率测试的可执行性和测试重复性，为制程监控及框胶异常解析提供数据。 | ||
| 搜索关键词： | 固化 测试 样品 制备 方法 | ||
【主权项】：
一种框胶固化率测试样品的制备方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1、获取表面自下而上依次附着有框胶(30)和黑色矩阵(12)的TFT基板(20)，作为待测样本(80)；步骤2、将所述待测样本(80)水平放置于桌面上，并使TFT基板(20)具有黑色矩阵(12)的一侧为远离桌面的一侧；步骤3、提供一砂纸(50)，用所述砂纸(50)擦拭黑色矩阵(12)，直至暴露出所述黑色矩阵(12)下方的框胶(30)，得到框胶固化率测试样品(60)。
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