[发明专利]验证存储器件的修复结果的存储器件、存储器系统以及方法有效
| 申请号： | 201610987132.7 | 申请日： | 2016-11-09 |
| 公开（公告）号： | CN107039088B | 公开（公告）日： | 2021-07-13 |
| 发明（设计）人： | 金锡中;张永旭 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11C29/44 | 分类号： | G11C29/44;G11C29/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 邵亚丽;张婧 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种存储器件，其包括存储单元阵列和控制电路，其中，存储单元阵列包括包含第一失效块的正常区域以及包含替换第一失效块的第一冗余块的冗余区域。控制电路包括存储替换信息的映射表。控制电路参考映射表以用于访问第一冗余块。当测试存储器件时，控制电路将“1”写入正常区域和第一冗余块中，将“0”写入除了第一冗余块之外的冗余区域中，将关于第二失效块和冗余区域中的第二冗余块的替换信息写入到映射表，以及关于被指派到地址信号的整个范围来基于从存储单元阵列所读取的整个数据验证采用第二冗余块替换第二失效块的结果。 | ||
| 搜索关键词： | 验证 存储 器件 修复 结果 存储器 系统 以及 方法 | ||
【主权项】：
一种存储器件，包括：存储单元阵列，包括正常区域和冗余区域，所述正常区域包括第一失效块，所述冗余区域包括替换第一失效块的第一冗余块；以及控制电路，包括存储关于第一失效块和第一冗余块的替换信息的映射表，所述控制电路被配置为当地址信号与所述第一失效块相对应时，参考映射表并且访问所述第一冗余块，其中，所述正常区域进一步包括第二失效块，所述控制电路被配置为将第一逻辑值写入所述正常区域和所述第一冗余块中；将第二逻辑值写入除了所述第一冗余块之外的冗余区域中；将所述第二失效块与所述冗余区域中的第二冗余块之间的替换信息添加到所述映射表；以及关于被指派到地址信号的整个范围来基于从存储单元阵列所读取的整个数据验证采用所述第二冗余块替换所述第二失效块的结果。
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