[发明专利]一种聚电解质附近抗衡离子的吸附脱附速率常数的测定方法

摘要

本发明公开了一种聚电解质附近抗衡离子的吸附脱附速率常数的测定方法。所述测定方法包括如下步骤：1)利用荧光探针分子D标记聚电解质得到标记的聚电解质；2)配制标记的聚电解质与荧光探针分子A的水溶液；荧光探针分子D与荧光探针分子A之间能发生荧光共振能量转移；3)将激发荧光探针分子D的激光照射水溶液，对荧光探针分子D和荧光探针分子A所产生的荧光信号进行分光得到两束荧光信号，检测两束荧光信号并进行自关联和交叉关联分析得到关联函数，对关联函数进行拟合即得到聚电解质附近抗衡离子随主链的扩散信息以及相对于主链的吸附脱附速率常数信息。本发明测定方法能够在fL量级的空间进行测量，特别适合生物样品或者珍贵样品的研究。

主权项

1.一种聚电解质附近抗衡离子的吸附脱附速率常数的测定方法，包括如下步骤：1)利用荧光探针分子D标记聚电解质，得到标记的聚电解质；2)配制所述标记的聚电解质与荧光探针分子A的水溶液；所述荧光探针分子D与所述荧光探针分子A之间能发生荧光共振能量转移；3)将激发所述荧光探针分子D的激光照射所述水溶液，对所述荧光探针分子D和所述荧光探针分子A所产生的荧光信号进行分光得到两束荧光信号，检测所述两束荧光信号并进行自关联和交叉关联分析得到关联函数，对所述关联函数进行拟合即得到所述聚电解质附近抗衡离子随主链的扩散信息以及相对于主链的吸附脱附速率常数信息；所述荧光探针分子D的结构式如式Ⅰ‑1或式Ⅰ‑2所示：所述荧光探针分子A的结构式如式Ⅱ所示：式Ⅰ‑1、式Ⅰ‑2和式Ⅱ中，*均表示与所述聚电解质相连接的基团。