[发明专利]一种在SiC衬底上通过点籽晶定位生长大尺寸单晶石墨烯的方法有效
申请号: | 201610975636.7 | 申请日: | 2016-11-07 |
公开(公告)号: | CN106521618B | 公开(公告)日: | 2018-10-26 |
发明(设计)人: | 于法鹏;张晶;杨志远;马庆宇;孙丽;陈秀芳;徐现刚;程秀凤;赵显 | 申请(专利权)人: | 山东大学;山东本源晶体科技有限公司 |
主分类号: | C30B25/02 | 分类号: | C30B25/02;C30B29/02 |
代理公司: | 济南金迪知识产权代理有限公司 37219 | 代理人: | 杨磊 |
地址: | 250199 山*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明涉及一种在SiC衬底上通过点籽晶定位生长大尺寸单晶石墨烯的方法,包括步骤如下:(1)将SiC进行抛光、清洗后,置于生长炉中,抽真空,升温至1200~1300℃;通入氩气和氢气,升温至1500℃~1600℃,进行氢刻蚀;刻蚀后,关闭氢气,降温至1400~1500℃,保温;氩气氛围降温至800℃~1100℃,将微细导热探针放在SiC衬底上,形成局部过冷点;通入碳源气体和氢气,碳源气体分解后的活性碳源在过冷点处优先生长为石墨烯籽晶;(2)在800℃~1100℃,800~900mbar;碳源气体的供应下,石墨烯以SiC衬底上的籽晶为中心不断长大,得大尺寸单晶石墨烯;(3)生长结束后,通入氩气,降温,即得。本发明不依赖于金属衬底,无需对生长得到的大尺寸单晶石墨烯进行转移,可以直接应用到微电子器件。 | ||
搜索关键词: | 一种 sic 衬底 通过 籽晶 定位 生长 尺寸 晶石 方法 | ||
【主权项】:
1.一种在SiC衬底上通过点籽晶定位生长大尺寸单晶石墨烯的方法,包括步骤如下:(1)将SiC进行抛光、清洗后,平放于高温CVD石墨烯生长炉的石墨加热器中,高温CVD石墨烯生长炉腔抽真空度为10‑3~10‑4Pa,快速升温至1200~1300℃;通入高纯氩气和氢气,压力控制在800~900mbar,然后缓慢升温至1500℃~1600℃,保温10~15min,进行氢刻蚀;刻蚀结束后,关闭氢气,然后缓慢降温至1400~1500℃,保温10~30min;然后,在氩气的氛围下降温至800℃~1100℃,将微细导热探针放在SiC衬底上,形成以导热探针为中心的局部过冷点;通入碳源气体和氢气,压力控制在800~900mbar,由碳源气体分解后的活性碳源在过冷点处优先生长为石墨烯籽晶;(2)保持SiC衬底温度为800℃~1100℃,系统压力为800~900mbar;在碳源气体的供应下,石墨烯以SiC衬底上的籽晶为中心不断长大,最终获得大尺寸单晶石墨烯;(3)生长过程结束后,通入氩气,压力控制在800~900mbar,缓慢降温至600~700℃,停止通入氩气,自然降温,即得大尺寸单晶石墨烯。
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