[发明专利]带存储单元的集成芯片复测方法在审
| 申请号： | 201610971236.9 | 申请日： | 2016-11-03 |
| 公开（公告）号： | CN106443415A | 公开（公告）日： | 2017-02-22 |
| 发明（设计）人： | 邓俊萍 | 申请（专利权）人： | 上海华虹集成电路有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司31211 | 代理人： | 戴广志 |
| 地址： | 201203 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种带存储单元的集成芯片复测方法，在每个关键节点对存储单元写入标志位来标记该节点测试项的通过或失效；读取每个关键节点的标志位决定是否进行该节点测项测试及之后测试内容。本发明能够最大限度保证测试结果的准确性及减少复测时间。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 单元 集成 芯片 复测 方法 | ||
【主权项】：
一种带存储单元的集成芯片的复测方法，其特征在于：在每个关键节点对存储单元写入标志位，用于标记该节点测试项的通过或失效；读取每个关键节点的标志位，决定是否进行该节点测项测试及之后测试内容。
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