[发明专利]一种可精确测量易变形件尺寸的结构和方法及底座在审

专利信息
申请号: 201610899278.6 申请日: 2016-10-14
公开(公告)号: CN107957228A 公开(公告)日: 2018-04-24
发明(设计)人: 付正庭;朱传斌;陈显怀;黎国柱;陈伟;袁伟;吴育权;瞿月红 申请(专利权)人: 佛山市顺德区美的电热电器制造有限公司
主分类号: G01B5/00 分类号: G01B5/00;G01B5/30
代理公司: 北京轻创知识产权代理有限公司11212 代理人: 何佩英
地址: 528311 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种可精确测量易变形件尺寸的结构和方法及底座,所述结构用于对测量装置的两个测量端进行卡接定位;所述结构包括第一测量筋和第二测量筋,所述第一测量筋和第二测量筋固定在易变形件的被测量区域上,所述第一测量筋上设有用于卡接测量装置一个测量端的第一卡位部,所述第二测量筋上设有用于卡接测量装置另一个测量端的第二卡位部。本发明通过在易变形件的被测量区域上设置两个测量筋,且在测量筋上设置卡位部,在通过卡尺等测量工具测量时,方便测量工具的定位;且方便易变形件、形状不规则、被测量区域都是弧度或圆角或斜面等易变形件的尺寸测量,有利于生产控制。
搜索关键词: 一种 精确 测量 变形 尺寸 结构 方法 底座
【主权项】:
一种可精确测量易变形件尺寸的结构,用于对测量装置的两个测量端进行卡接定位;其特征在于,包括第一测量筋和第二测量筋,所述第一测量筋和第二测量筋固定在易变形件的被测量区域上,所述第一测量筋上设有用于卡接测量装置一个测量端的第一卡位部,所述第二测量筋上设有用于卡接测量装置另一个测量端的第二卡位部。
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