[发明专利]一种可精确测量易变形件尺寸的结构和方法及底座

说明书

技术领域

本发明涉及结构尺寸测量技术领域，具体涉及一种可精确测量易变形件尺寸的结构和方法及底座。

背景技术

很多塑料件，整体形状有一定弹性，受力后容易发生变形，不方便测量尺寸，同时表面又都有圆角或者斜面，在用卡尺等工具测量时，常常发现不知道测量哪个点，测出的尺寸跟图纸尺寸会有区别，非常不便于生产控制，也影响产品品质。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是针对现有技术的不足，提供一种可精确测量易变形件尺寸的结构和方法及底座。

本发明解决上述技术问题的技术方案如下：一种可精确测量易变形件尺寸的结构，用于对测量装置的两个测量端进行卡接定位；包括第一测量筋和第二测量筋，所述第一测量筋和第二测量筋固定在易变形件的被测量区域上，所述第一测量筋上设有用于卡接测量装置一个测量端的第一卡位部，所述第二测量筋上设有用于卡接测量装置另一个测量端的第二卡位部。

本发明的有益效果是：本发明通过在易变形件的被测量区域上设置两个测量筋，且在测量筋上设置卡位部，在通过卡尺等测量工具测量时，方便测量工具的定位；且方便易变形件、形状不规则、被测量区域都是弧度或圆角或斜面等易变形件的尺寸测量，有利于生产控制。

在上述技术方案的基础上，本发明还可以做如下改进。

进一步，所述第一卡位部和第二卡位部均为平面结构且与所述测量面垂直布置；所述第一卡位部为所述第一测量筋远离所述第二测量筋的一侧面，所述第二卡位部为所述第二测量筋远离所述第一测量筋的一侧面。

采用上述进一步方案的有益效果是：通过将第一卡位部和第二卡位部设置为平面结构，方便卡尺的卡接定位，测量精度更高。

进一步，所述第一卡位部为开设在所述第一测量筋远离所述第二测量筋的一侧面上的凹槽或通孔，所述第二卡位部为开设在所述第二测量筋远离所述第一测量筋的一侧面上的凹槽或通孔。

采用上述进一步方案的有益效果是：通过将第一卡位部和第二卡位部设置为凹槽或通孔结构，方便测量工具的卡接定位。

进一步，所述第一卡位部和第二卡位部均位于所述被测量区域的周向边沿处。

采用上述进一步方案的有益效果是：通过将第一卡位部和第二卡位部设置在被测量区域的周向边沿处，可保证被测量区域测量尺寸的准确性。

进一步，所述第一测量筋和第二测量筋均包括顶面、第一侧面、第二侧面、测量面和固定面，所述顶面为所述第一测量筋和第二测量筋背离所述被测量区域的一侧面且与所述第一侧面和第二侧面的顶端连接；

所述第一测量筋的测量面为所述第一测量筋远离所述第二测量筋的一侧面，所述第二测量筋的测量面为所述第二测量筋远离所述第一测量筋的一侧面；所述第一侧面和第二侧面一端连接所述测量面的两侧，所述固定面连接所述第一侧面和第二侧面靠近所述被测量区域的一端上且与所述易变形件的被测量区域固定连接；所述第一卡位部和第二卡位部分别为所述第一测量筋的测量面和所述第二测量筋的测量面，或者所述第一卡位部和第二卡位部分别设置在所述第一测量筋和第二测量筋的测量面上；所述第一侧面和第二侧面之间的间距不超过1.5mm。

采用上述进一步方案的有益效果是：通过对第一侧面和第二侧面之间的厚度进行限定，节省原料，方便出模生产。

进一步，所述被测量区域为平面，所述顶面与所述被测量区域平行布置，所述顶面与所述被测量区域之间的垂直距离为3mm-5mm。

采用上述进一步方案的有益效果是：通过对顶面和被测量区域之间的距离进行限定，避免影响外观结构。

一种底座，包括底座本体和如上所述的可精确测量易变形件尺寸的结构，所述第一测量筋和第二测量筋固定在底座本体的被测量区域上。

本发明的有益效果是：本发明的底座，通过设置第一测量筋和第二测量筋，在通过卡尺等测量工具测量时，方便测量工具的定位；且方便易变形件、形状不规则、被测量区域都是弧度或圆角或斜面等易变形件的尺寸测量，有利于生产控制。

进一步，所述底座本体包括筒状结构的侧壁和一体连接在所述侧壁一端的底壁，所述被测量区域为所述底壁的外侧面。

采用上述进一步方案的有益效果是：通过对底壁的外侧面的尺寸进行测量，使测得的尺寸最能代表整个底座的尺寸，测量精度高。

进一步，所述底壁的外侧面上连接有多个支脚，所述支脚的表面为弧面结构，所述第一测量筋和第二测量筋分别一体连接在两个所述支脚与所述底壁的连接处。