[发明专利]金属‑陶瓷太阳能选择性吸收涂层多光谱发射率测量方法在审
| 申请号： | 201610848356.X | 申请日： | 2016-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN106441590A | 公开（公告）日： | 2017-02-22 |
| 发明（设计）人： | 张宇峰;李明;戴景民;邵珠峰;楚春雨;付莹 | 申请（专利权）人： | 渤海大学 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00 |
| 代理公司： | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙)11350 | 代理人： | 崔艳姣 |
| 地址： | 121013 辽宁省*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种金属‑陶瓷太阳能选择性吸收涂层多光谱发射率测量方法，其首先利用涂层结构参数的发射率模型，根据黑体普朗克公式获得光谱辐射亮度的计算值（膜结构参数的函数）；再利用光谱仪实现对涂层的光谱辐射亮度进行测量；建立光谱辐射亮度测量值与计算值的约束方程，采用自适应模拟退火算法获得涂层结构参数的最优解，实现涂层光谱发射率的测量。本发明既可保证发射率测量结果的准确性，还可促进金属‑陶瓷涂层设计的优化和制备工艺的提高，对提高太阳能热发电系统的光热转换效率具有重要的推动意义。 | ||
| 搜索关键词： | 金属 陶瓷 太阳能 选择性 吸收 涂层 光谱 发射 测量方法 | ||
【主权项】：
金属‑陶瓷太阳能选择性吸收涂层多光谱发射率测量方法，其特征在于：其包括如下步骤：S1、利用金属陶瓷太阳能选择性吸收涂层结构参数的发射率模型，根据黑体普朗克公式获得光谱辐射亮度的计算值（膜结构参数的函数）；S2、再利用光谱仪实现对涂层的光谱辐射亮度进行测量；S3、建立光谱辐射亮度测量值与计算值的约束方程；S4、根据光谱辐射亮度约束方程，采用自适应模拟退火算法获得涂层结构参数的最优解，实现涂层光谱发射率的测量。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于渤海大学，未经渤海大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201610848356.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
