[发明专利]应力解析装置、方法以及程序有效
| 申请号： | 201610821660.5 | 申请日： | 2016-09-13 |
| 公开（公告）号： | CN106970098B | 公开（公告）日： | 2020-05-22 |
| 发明（设计）人： | 安川昇一 | 申请（专利权）人： | 株式会社理学 |
| 主分类号： | G01N23/207 | 分类号： | G01N23/207 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 李逸雪 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供一种能够提高应力值的精度的应力解析装置、方法以及程序。用于计算试样(S)的残留应力的应力解析装置(100)，具备：解析部，其在与试样(S)的表面垂直的方向的应力为恒定时，采用包含误差的项且表示应力与应变的关系的方程式，利用基于针对多个散射向量的衍射X射线的测量值和暂定值，将误差计算为解之一；和暂定值补正部，其利用所计算出的所述误差来补正暂定值，解析部以及补正部反复进行误差的计算以及暂定值的补正。 | ||
| 搜索关键词： | 应力 解析 装置 方法 以及 程序 | ||
【主权项】：
一种应力解析装置，计算试样的残留应力，其特征在于，具备：解析部，其在与试样的表面垂直的方向的应力为恒定时，采用包含误差项且表示应力与应变的关系的方程式，利用基于针对多个散射向量的衍射X射线的测量值和暂定值，将所述误差计算为解之一；和暂定值补正部，其利用所计算出的所述误差来补正所述暂定值，所述解析部以及补正部反复进行所述误差的计算以及所述暂定值的补正。
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