[发明专利]透明基板的厚度测量在审

专利信息
申请号: 201610787007.1 申请日: 2016-08-31
公开(公告)号: CN106482649A 公开(公告)日: 2017-03-08
发明(设计)人: S·Y·波塔潘科 申请(专利权)人: 康宁股份有限公司
主分类号: G01B11/06 分类号: G01B11/06
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司31100 代理人: 乐洪咏,江磊
地址: 美国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种在透明基板上的一点处确定该透明基板厚度的方法,其中透明基板在该点处的相对主表面不平行。所述方法包括比较具有至少一个特征的目标的图像,该特征沿着目标的维度变化。可进行多种厚度计算,以在透明基板的所需维度上获得透明基板的厚度分布。所述方法可用来例如获得玻璃带的厚边部分的厚度。厚度分布可用来计算厚边部分的厚度,然后计算厚边部分的重量。然后,可利用重量确定熔融玻璃流速,将实际流速与所需流速作比较时,该熔融玻璃流速又可用来控制流速。
搜索关键词: 透明 厚度 测量
【主权项】:
一种表征透明基板的方法,所述方法包括:在第一位置测量透明基板的第一厚度,其中透明基板在该第一位置的相对表面基本上平行;在第二位置确定透明基板的局部楔角,其中在该第二位置的相对表面基本上不平行,其中确定局部楔角包括:用成像系统透过透明基板对目标成像,以获得目标图像,所述目标包含至少一个属性,该属性沿着目标的第一维度变化;确定由目标图像获得的所述至少一个属性相对于目标的空间偏移;利用目标与目标图像之间的所述至少一个属性的空间偏移计算第二位置的局部楔角;以及利用所述局部楔角和第一厚度计算玻璃基板在第二位置的第二厚度。
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