[发明专利]一种逆导型IGBT有效

专利信息
申请号: 201610786927.1 申请日: 2016-08-31
公开(公告)号: CN106252399B 公开(公告)日: 2019-03-29
发明(设计)人: 罗小蓉;邓高强;周坤;刘庆;孙涛;黄琳华;张波 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H01L29/739 分类号: H01L29/739;H01L29/06
代理公司: 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 51232 代理人: 葛启函
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明属于功率半导体器件技术领域,涉及一种逆导型IGBT。本发明的逆导型IGBT,其技术方案是:在N型高阻半导体材料表面形成P型区,所述P型区表面沿器件横向方向并列交替形成N型发射区和P型体接触区。在N型发射区中具有介质槽,由位于槽内壁的绝缘介质层和由绝缘介质层包围的导电材料构成,形成槽栅结构;所述N型发射区和P型体接触区的共同引出端为发射极电极。在N型高阻半导体材料的背面,沿器件横向方向由连续交替变换的N型区和P型区形成集电区,所述N型和P型区的共同引出端为集电极。其特征在于:所述集电区的顶部引入具有电场截止作用的重掺杂N型岛,重掺杂N型岛沿器件横向方向间断分布,相邻重掺杂N型岛之间为高阻N型漂移区。
搜索关键词: 一种 逆导型 igbt
【主权项】:
1.一种逆导型IGBT,在N型高阻半导体材料表面形成P型区(1),所述P型区表面沿器件横向方向并列交替形成N型发射区(3)和P型体接触区(4);在N型发射区(3)中部形成贯穿P型区且底部与N型高阻半导体相接触的介质槽(2),介质槽(2)由位于槽内壁的绝缘介质层(21)和由绝缘介质层(21)包围的导电材料(22)构成,由介质槽(2)中的导电材料引出栅电极,形成槽栅结构;所述N型发射区(3)和P型体接触区(4)的共同引出端为发射极电极;在N型高阻半导体材料的背面,沿器件横向方向由连续交替变换的N型区(51)和P型区(52)形成集电区,所述N型区(51)和P型区(52)的共同引出端为集电极;所述集电区的顶部引入具有电场截止作用的重掺杂N型岛(6),所述重掺杂N型岛(6)沿器件横向方向间断分布,相邻重掺杂N型岛(6)之间为N型高阻半导体;相邻重掺杂N型岛(6)之间沿器件横向方向上的间距在靠近N型区(51)处大于远离N型区(51)处。
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