[发明专利]基于图像互相关匹配的电光晶体光轴出露点提取方法

摘要

本发明公开了一种基于图像互相关匹配的电光晶体光轴出露点提取方法，属于光学精密检测技术领域，解决利用偏光干涉图确定电光晶体的光轴方向方法中光轴出露点的提取精度差的问题。本发明具体如下：获得偏光干涉图I，模拟得到合适的初始特征模板T0；对初始特征模板T0进行几何变换，获得不同大小不同旋转角度下的一系列特征模板图像Tmn；将特征模板Tmn分别和偏光干涉图I进行图像互相关匹配运算，用相关系数rmn(x,y)定量特征模板Tmn和偏光干涉图I的相关程度，经过图像互相关匹配运算，得到在特征模板Tmn下的最大相关系数rmn‑max和最大相关系数的位置坐标(xmn,ymn)；并选取最大相关系数rmn‑max中的最大值rmax的位置坐标(xmax,ymax)作为光轴出露点的位置坐标。

主权项

一种基于图像互相关匹配的电光晶体光轴出露点提取方法，其特征在于,具体如下：(1)获得偏光干涉图I；(2)根据偏光干涉原理，通过模拟仿真得到合适的初始特征模板T0；(3)对模拟仿真得到的初始特征模板T0以一系列不同的缩放比率Sn、不同旋转角度θm进行几何变换，获得不同大小、不同旋转角度下的特征模板图像Tmn；(4)将经过几何变换后得到的所有特征模板Tmn分别和偏光干涉图I进行图像互相关匹配运算，用相关系数rmn(x,y)定量特征模板Tmn和偏光干涉图I的相关程度，经过图像互相关匹配运算，得到所有特征模板Tmn下的最大相关系数rmn‑max和最大相关系数的位置坐标(xmn,ymn)；(5)选取最大相关系数rmn‑max中的最大值rmax，将最大值rmax位置坐标(xmax,ymax)作为光轴出露点的位置坐标。