[发明专利]一种基于LPP‑ELM的立体图像质量客观评价方法在审

专利信息
申请号: 201610780881.2 申请日: 2016-08-31
公开(公告)号: CN106384364A 公开(公告)日: 2017-02-08
发明(设计)人: 李素梅;范如;孟迪;侯春萍 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: G06T7/593 分类号: G06T7/593;G06T7/00;G06K9/62
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所12201 代理人: 李素兰
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明公开了一种基于LPP‑ELM的立体图像质量客观评价方法,步骤(1)、选取训练样本和测试样本;步骤(2)、利用LPP算法对于训练样本和测试样本进行特征提取和降维;步骤(3)、采用极端学习机ELM对训练样本进行分类处理。与现有技术相比,本发明采用的LPP‑ELM算法提高了识别系统的准确性,人工参与少、为立体图像质量客观评价的实时环境及系统的推广提供了有效途径;与PCA‑ELM、PCA‑SVM相比较,LPP‑ELM在立体图像质量客观评价方面整体性能更加优良,具有实际可行性。
搜索关键词: 一种 基于 lpp elm 立体 图像 质量 客观 评价 方法
【主权项】:
一种基于LPP‑ELM的立体图像质量客观评价方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:步骤(1)、选取训练样本和测试样本;步骤(2)、利用LPP算法对于训练样本和测试样本进行特征提取和降维,即在LPP算法中,给定高维特征空间中的样本集X=[x1,x2,…,xn],xn代表样本集中的各立体图像,n代表高维训练样本个数;找到一个投影矩阵A,投影矩阵A=[a1,a2,…,ad]由矩阵(XDXT)‑1XLXT的前d个最小特征值对应的特征向量构成,其中D为对角矩阵,L=D‑S为拉普拉斯矩阵;将样本集X空间依据投影矩阵A投影到一个低维特征空间的样本集Y=[y1,y2,…,yn],Y=ATX,将训练样本和测试样本投影到LPP子空间中;步骤(3)、采用极端学习机ELM对训练样本进行分类处理,即:读入训练样本,并将样本随机分成训练集和测试集两部分;进行种群初始化,设置种群个体数为N,种群中的个体包含了ELM网络结构的所有权重与阈值;随机设置输入隐藏层权值αi以及阈值bi,i=1,…,M;其中,M为隐藏层节点个数,αi,bi∈[‑1,1];选择一个无限可微的函数作为隐藏层神经元的激励函数g(x),计算隐藏层输出矩阵H;通过最小二乘法计算输出层权值矩阵β,输入样本的期望输出值矩阵T,完成模型建立;β=HTT其中,β=β1TMβMT,T=t1TMtNT.]]>
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