[发明专利]集成电路芯片的原型验证装置在审
| 申请号： | 201610698654.5 | 申请日： | 2016-08-22 |
| 公开（公告）号： | CN107766599A | 公开（公告）日： | 2018-03-06 |
| 发明（设计）人： | 李聪聪 | 申请（专利权）人： | 深圳市中兴微电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司11270 | 代理人： | 李梅香,张颖玲 |
| 地址： | 518085 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明实施例公开了一种集成电路芯片的原型验证装置，其特征在于，所述装置包括异构CPU模块及FPGA模块；所述异构CPU模块包括至少一个异构CPU单板、第一外部高速光纤接口；所述FPGA模块包括至少一个FPGA单板、第二外部高速光纤接口；所述异构CPU模块的第一外部高速光纤接口通过光纤与所述FPGA模块的第二外部高速光纤接口连接。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 芯片 原型 验证 装置 | ||
【主权项】：
一种集成电路芯片的原型验证装置，其特征在于，所述装置包括：异构中央处理器CPU模块及现场可编程门阵列FPGA模块；所述异构CPU模块包括：至少一个异构CPU单板、第一外部高速光纤接口；所述FPGA模块包括：至少一个FPGA单板、第二外部高速光纤接口；所述异构CPU模块的第一外部高速光纤接口通过光纤与所述FPGA模块的第二外部高速光纤接口连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市中兴微电子技术有限公司，未经深圳市中兴微电子技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201610698654.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：叶轮机最优时序位置确定方法和装置
- 下一篇：一种压气站可靠度计算方法和装置
