[发明专利]安检设备和方法有效
| 申请号： | 201610634086.2 | 申请日： | 2016-08-05 |
| 公开（公告）号： | CN106093089B | 公开（公告）日： | 2019-03-01 |
| 发明（设计）人： | 陈志强;赵自然;崔锦;林东;胡斌;谭贤顺;王虹 | 申请（专利权）人： | 同方威视技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/203 | 分类号： | G01N23/203;G01V5/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 曹蓓 |
| 地址： | 100084 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提出一种安检设备和方法，涉及辐射技术领域。其中，本发明的安检设备包括：射线发射装置；背散射探测器，位于射线发射装置与待测物体之间，用于获取背散射数据；尺寸距离检测装置，位于射线发射装置与待测物体之间，用于检测待测物体的尺寸和/或与尺寸距离检测装置的距离；方位调节装置，用于根据尺寸距离检测装置检测的待测物体的尺寸和/或与尺寸距离检测装置的距离调节射线发射装置的位置。这样的安检设备能够检测到待测物体的尺寸、位置信息，根据待测物体的尺寸、位置能够自动调节射线发射装置的位置，从而能够减少或避免产生探测死角，提高探测的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 安检 设备 方法 | ||
【主权项】：
1.一种安检设备，其特征在于，包括：射线发射装置；背散射探测器，位于射线发射装置与待测物体之间，用于获取背散射数据；尺寸距离检测装置，位于射线发射装置与待测物体之间，用于检测所述待测物体的尺寸和/或与所述尺寸距离检测装置的距离；和，方位调节装置，用于根据所述尺寸距离检测装置检测的所述待测物体的尺寸和/或与所述尺寸距离检测装置的距离调节所述射线发射装置的位置和射线发射角度，所述位置包括所述射线发射装置的高度。
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