[发明专利]单光子探测器探测致盲攻击的监测装置与方法在审

专利信息
申请号: 201610631931.0 申请日: 2016-08-04
公开(公告)号: CN107689829A 公开(公告)日: 2018-02-13
发明(设计)人: 刘云;刘婧婧;徐焕银;苗春华;黄敦锋 申请(专利权)人: 安徽问天量子科技股份有限公司
主分类号: H04B10/07 分类号: H04B10/07
代理公司: 北京市盈科律师事务所11344 代理人: 王长征
地址: 241003*** 国省代码: 安徽;34
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种单光子探测器探测致盲攻击的监测装置,温度监测模块用于监测单光子探测器光敏元件的工作温度;电压监测模块用于监测单光子探测器光敏元件的工作电压和甄别阈值电压;电流监测模块用于监测流过单光子探测器光敏元件的光电流;光电流可通过电流表进行监测,也可以通过对串联电阻进行电压采样进行监测;参数监测模块用于将实时指标数据与参考指标数据进行比较,以实现监测;本发明还公开了一种单光子探测器探测致盲攻击的监测方法。本发明可有效监测目前已知的各种致盲攻击方案,发现致盲攻击后可进行报警、终止密钥分配,保障QKD系统的安全。
搜索关键词: 光子 探测器 探测 攻击 监测 装置 方法
【主权项】:
单光子探测器探测致盲攻击的监测装置,包括单光子探测器;其特征在于还包括:温度监测模块、电压监测模块、电流监测模块和参数监测模块;温度监测模块用于监测单光子探测器的光敏元件的工作温度;电压监测模块用于监测单光子探测器的光敏元件的工作电压和甄别阈值电压;电流监测模块用于监测流过单光子探测器的光敏元件的光电流;光电流可通过电流表进行监测,也可以通过对串联电阻进行电压采样进行监测;参数监测模块用于将实时指标数据与参考指标数据进行比较,以实现监测;参数监测模块通过存储标定的单光子探测器的探测效率、暗计数率和后脉冲率,形成参考指标数据;参数监测模块通过监测工作时的单光子探测器的探测效率、暗计数率和后脉冲率,形成实时指标数据。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于安徽问天量子科技股份有限公司,未经安徽问天量子科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610631931.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top