[发明专利]一种提高石墨烯成核密度的石墨烯生长方法在审

专利信息
申请号: 201610591642.2 申请日: 2016-07-26
公开(公告)号: CN107653446A 公开(公告)日: 2018-02-02
发明(设计)人: 狄增峰;马骏;张苗;王刚;贾鹏飞;汪子文;王曦 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: C23C16/02 分类号: C23C16/02;C23C16/26
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙)31219 代理人: 余明伟
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种提高石墨烯成核密度的石墨烯生长方法,包括如下步骤S1提供一Ge衬底,对所述Ge衬底进行离子注入;S2进行退火,使所述Ge衬底中的注入离子至少有一部分析出到所述Ge衬底表面,以增加所述Ge衬底表面的石墨烯成核点;S3提供碳源,在所述Ge衬底表面生长得到石墨烯。本发明为石墨烯在Ge表面的生长提供了更多的成核点,从而提高石墨烯的成核密度,大大的增加了石墨烯的生长速度,有利于减少石墨烯的生产成本,并可以通过调节离子的注入剂量与注入能量来调制石墨烯的成核密度。
搜索关键词: 一种 提高 石墨 成核 密度 生长 方法
【主权项】:
一种提高石墨烯成核密度的石墨烯生长方法,其特征在于,包括如下步骤:S1:提供一Ge衬底,对所述Ge衬底进行离子注入;S2:进行退火,使所述Ge衬底中的注入离子至少有一部分析出到所述Ge衬底表面,以增加所述Ge衬底表面的石墨烯成核点;S3:提供碳源,在所述Ge衬底表面生长得到石墨烯。
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