[发明专利]工件斜面倾斜角度的测量方法在审
| 申请号： | 201610589124.7 | 申请日： | 2016-07-22 |
| 公开（公告）号： | CN106225648A | 公开（公告）日： | 2016-12-14 |
| 发明（设计）人： | 蒙埂美 | 申请（专利权）人： | 深圳天珑无线科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/24 | 分类号： | G01B5/24;G01C9/00 |
| 代理公司： | 北京汇思诚业知识产权代理有限公司11444 | 代理人： | 王刚;龚敏 |
| 地址： | 518053 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种工件斜面倾斜角度的测量方法，包括：将待测工件放置于基准面上，待测工件的斜面朝向远离基准面的方向；将挡块放置于基准面上，且与斜面的下边缘贴紧，挡块朝向待测工件的表面与斜面之间形成容置空间；将测量圆棒放置于容置空间内，且分别与挡块朝向待测工件的表面和斜面贴紧；采用高度规测针分别测量测量圆棒最高点相对于基准面的高度，以及斜面的下边缘相对于基准面的高度；根据测量圆棒最高点相对于基准面的高度和斜面的下边缘相对于基准面的高度得到斜面的倾斜角度。本发明提供的工件斜面倾斜角度的测量方法能够解决现有技术中对斜面倾斜角度测量步骤较繁琐的问题，以简化测量步骤，提高生产效率。 | ||
| 搜索关键词： | 工件 斜面 倾斜 角度 测量方法 | ||
【主权项】：
一种工件斜面倾斜角度的测量方法，其特征在于，包括：将待测工件放置于基准面上，所述待测工件的斜面朝向远离基准面的方向；将挡块放置于基准面上，且与所述斜面的下边缘贴紧，所述挡块朝向所述待测工件的表面与斜面之间形成容置空间；将测量圆棒放置于所述容置空间内，且分别与所述挡块朝向所述待测工件的表面和所述斜面贴紧；采用高度规测针分别测量所述测量圆棒最高点相对于所述基准面的高度，以及所述斜面的下边缘相对于所述基准面的高度；根据测量圆棒最高点相对于所述基准面的高度和斜面的下边缘相对于所述基准面的高度得到所述斜面的倾斜角度。
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