[发明专利]EEPROM存储器的快速测试技术有效
| 申请号： | 201610506807.1 | 申请日： | 2016-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN106205726B | 公开（公告）日： | 2020-02-04 |
| 发明（设计）人： | 刘吉平;唐伟;张怀东 | 申请（专利权）人： | 深圳市航顺芯片技术研发有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/18 | 分类号： | G11C29/18;G11C29/44 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种EEPROM存储器的快速测试技术，其特征在于，包括：测试控制模块、高压控制模块、读取数据模块、数据比较模块、控制逻辑模块、数据判断模块以及EEPROM内的存储单元。本EEPROM存储器的写入数据和读取完全由内部逻辑控制完成，并且数据的比较过程以及测试判断过程也由内部逻辑控制实现，最终只要将测试结果信号送出即可。测试效率非常高效。测试过程中写入的数据并不采用棋盘测试数据（0x55和0xAA），而是采用EEPROM容易擦除和写入的0x00和0xFF测试数据来完成，可以大大提高测试效率。本发明测试方法的整个测试过程基本不依赖于外部测试资源。 | ||
| 搜索关键词： | eeprom 存储器 快速 测试 技术 | ||
【主权项】：
1.一种EEPROM存储器的快速测试方法，其特征在于，包括如下步骤：/nS101，接受测试命令，开始测试；/nS102，对EEPROM存储器内存储单元中的数据进行整体擦除；/nS103，读取EEPROM存储器内存储单元中的数据；/nS104，判断存储单元中的数据是否均为0x00，是，则执行S105，否则执行S109；/nS105，对EEPROM存储器内存储单元全部写入0xFF；该步骤中直接通过EEPROM内部电路对全部存储器单元置位来实现；/nS106，二次读取EEPROM存储器内存储单元中的数据；/nS107，判断EEPROM存储器内存储单元中的数据是否均为0xFF，是，则执行S108，否则执行S109；/nS108，判断为测试通过；/nS109，判断为测试失败。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市航顺芯片技术研发有限公司，未经深圳市航顺芯片技术研发有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201610506807.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种新型防火电缆
- 下一篇：半导体器件及其操作方法
