[发明专利]一种雪崩二极管探测器光耦合系统及其测量方法

摘要

本发明提供了一种雪崩二极管探测器光耦合系统及其测量方法，所述系统包括：光学密封盒、光谱仪、光纤、三轴光纤调节架、雪崩二极管探测器，所述光谱仪对样品发射的光信号进行光谱过滤，所述光学密封盒固接于光谱仪的出射狭缝端，接收由光谱仪出射的光信号，并屏蔽外部杂散光，光纤的输入端通过三轴光纤调节架固定至光学密封盒，接收所述光信号，雪崩二极管探测器，其光纤接口连接光纤的输出端，用于探测所述光信号，本发明采用光纤将雪崩二极管探测器光耦合转变为光纤的光耦合，来实现方便、准确进行光谱测量。

主权项

一种雪崩二极管探测器光耦合系统，其特征在于，所述系统包括：光学密封盒(1)、光谱仪(2)、光纤(6)、雪崩二极管探测器(7)；所述光谱仪(2)，用于对样品发射的光信号进行光谱过滤；所述光学密封盒(1)，固接于所述光谱仪(2)的出射狭缝端，接收由光谱仪(2)出射的光信号，并屏蔽外部杂散光；所述光纤(6)，其输入端固定至所述光学密封盒(1)，接收所述光信号；所述雪崩二极管探测器(7)，其光纤接口连接光纤(6)的输出端，用于探测所述光信号。