[发明专利]一种分立器件芯片正面及侧壁钝化方法有效
申请号: | 201610422021.1 | 申请日: | 2016-06-15 |
公开(公告)号: | CN106024648B | 公开(公告)日: | 2020-02-07 |
发明(设计)人: | 郑晨焱;张小辛;粟笛 | 申请(专利权)人: | 华润微电子(重庆)有限公司 |
主分类号: | H01L21/56 | 分类号: | H01L21/56;H01L23/31 |
代理公司: | 31219 上海光华专利事务所(普通合伙) | 代理人: | 罗泳文 |
地址: | 401331 *** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | 本发明提供一种分立器件芯片正面及侧壁钝化方法,包括:步骤1),提供芯片晶圆,对芯片晶圆进行切割形成多个切割道;步骤2),提供一网版,所述网版具有与芯片晶圆切割道图形相匹配的开孔,将所述网版与芯片晶圆进行对准固定;步骤3),基于所述网版将钝化材料穿过所述开孔后附着于所述切割道的侧壁上。本发明采用阻焊油墨喷涂技术,结合网版图形设计制作,通过UV固化、热固化等方法,实现分立器件芯片特别是对SBD产品的正面及侧壁钝化保护,防止芯片在裸芯片封装引线焊接时,因淌料而导致的短路,较好实现电子芯片侧壁保护,本方法与传统的分立器件(discrete device)制造工艺相比,具有价格低廉、工艺稳定、性能优良可靠、制造周期短、设计灵活等特点。 | ||
搜索关键词: | 一种 分立 器件 芯片 正面 侧壁 钝化 方法 | ||
【主权项】:
1.一种分立器件芯片正面及侧壁钝化方法,其特征在于,所述钝化方法包括步骤:/n步骤1),提供芯片晶圆,对芯片晶圆进行切割形成多个切割道;/n步骤2),提供一网版,所述网版具有与芯片晶圆切割道图形相匹配的开孔,且所述网版于芯片晶圆正面欲制备钝化层的位置具有开孔,将所述网版与芯片晶圆正面进行对准固定,所述网版固定后与芯片晶圆为完全接触;/n步骤3),基于所述网版采用喷涂工艺或丝网印刷工艺将钝化材料穿过所述开孔后附着于所述切割道的侧壁及芯片晶圆正面欲制备钝化层的位置,所述钝化材料选用PCB板电路阻焊油墨,采用UV固化或热固化工艺固化所述油墨,形成钝化层。/n
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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