[发明专利]一种X射线非接触式钢冷轧板带厚度测量装置有效
申请号: | 201610358010.1 | 申请日: | 2016-05-26 |
公开(公告)号: | CN105841644B | 公开(公告)日: | 2018-04-10 |
发明(设计)人: | 朱卫民;李蔚森 | 申请(专利权)人: | 马鞍山恒瑞测量设备有限公司 |
主分类号: | G01B15/02 | 分类号: | G01B15/02 |
代理公司: | 北京纽盟知识产权代理事务所(特殊普通合伙)11456 | 代理人: | 许玉顺 |
地址: | 安徽省马鞍山市慈湖高*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明公开了一种X射线非接触式钢冷轧板带厚度测量装置,包括传送机构、检测探头、X射线源以及主电柜计算机,传送机构包括传送辊和传送带,传送带绕在传送辊上,传送机构上传送带钢,检测探头设置在带钢上端,X射线源设置在带钢下方,且与检测探头正对设置,主电柜计算机设置在传送机构一侧,且与检测探头电性连接,本发明结构设计新颖,采用非接触方式来检测带钢镀层的厚度,检测精度高、准确性高。 | ||
搜索关键词: | 一种 射线 接触 冷轧 厚度 测量 装置 | ||
【主权项】:
一种X射线非接触式钢冷轧板带厚度测量装置, 包括传送机构(1)、检测探头(2)、X射线源(3)以及主电柜计算机(4),其特征在于:所述传送机构(1)包括传送辊(5)和传送带(6),所述传送带(6)绕在传送辊(5)上,所述传送机构(1)上传送带钢(7),所述检测探头(2)设置在带钢(7)上端,所述X射线源(3)设置在带钢(7)下方,且与所述检测探头(2)正对设置,所述主电柜计算机(4)设置在传送机构(1)一侧,且与所述检测探头(2)电性连接,所述主电柜计算机(4)包括外壳(8),所述外壳(8)上设有显示屏(9),所述外壳(8)内设有微处理器(10)、显示模块(11)、存储模块(12)、报警模块(13)、A/D转换模块(14),所述微处理器(10)分别连接显示模块(11)、存储模块(12)、报警模块(13),所述检测探头(2)通过A/D转换模块(14)连接微处理器(10);所述检测探头(2)包括金属外壳体(15),所述金属外壳体(15)内部分别设有气体电离室(16)、前置放大板(17)以及高压模块(18),所述气体电离室(16)前端设有窗口(19),所述气体电离室(16)与前置放大板(17)相连,所述高压模块(18)电性连接气体电离室(16),所述前置放大板(17)上设有高倍低噪声运算放大模块(20),还包括屏蔽装置(21),所述屏蔽装置(21)固定设置在窗口(19)外侧;所述高倍低噪声运算放大模块(20)包括运算放大器(21)、两级场效应宽带放大器(22)以及扼流线圈(23),所述运算放大器(21)的一个输入端分别连接电阻B(2a)一端和电容B(2b)一端,电容B(2b)另一端接地,电阻B(2a)另一端分别连接电阻A(1a)一端和电容A(1b)一端,电容A(1b)另一端连接运算放大器(21)的输出端,运算放大器(21)的另一输入端分别连接电阻C(3a)一端和电阻D(4a)一端,电阻C(3a)另一端接地,电阻D(4a)另一端连接运算放大器(21)的输出端;所述两级场效应宽带放大器(22)的第一端(221)连接电容E(5b)一端,电容E(5b)另一端连接电阻F(6a)一端,电阻F(6a)另一端连接运算放大器(21)的输出端,两级场效应宽带放大器(22)的第二端(222)通过扼流线圈(23)分别连接电容F(6b)一端、电容G(7b)一端、电容H(8b)一端,且电容F(6b)另一端、电容G(7b)另一端、电容H(8b)另一端均接地,两级场效应宽带放大器(22)的第三端(223)通过电容D(4b)、电阻E(5a)连接运算放大器(21)的输出端,两级场效应宽带放大器(22)第四端(224)接地;所述X射线源(3)包括射线源壳体(24),所述射线源壳体(24)内设有大功率X射线管(25),所述射线源壳体(24)一侧设有进水接头(26)和出水接头(27)以及高压电缆接头法兰(28),所述射线源壳体(24)上端安装有样板箱(29),所述样板箱(29)内部设有快门装置(30)以及标准样板(31),所述快门装置(30)采用厚铅板制作而成,所述快门装置(30)和标准样板(31)均电性连接电磁驱动马达;所述检测探头(2)与带钢(7)上表面之间的距离为20mm‑30mm。
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