[发明专利]一种X射线非接触式钢冷轧板带厚度测量装置

说明书

技术领域

本发明涉及带钢镀层检测技术领域，具体为一种X射线非接触式钢冷轧板带厚度测量装置。

背景技术

镀膜技术在现在工业中占有极其重要的地位，已广泛应用于电子、航天、仪表等高技术工业。随着镀膜技术的发展，镀层的质量检查，也已被列为标准化的一门科学技术。在镀层质量检测中，镀层厚度和层中各元素的比例分配是控制镀膜性质的两个重要参数，测定这两个参数对于电子、光学、半导体、超导等高科技材料的研究发展具有重要意义。镀层厚度测量方法通常分为破坏性和非破坏性两大类。破坏性测厚法如点滴法、液流法、电量法等，由于对样品的破坏性和费事费力等缺陷，在许多精密测量中正被舍弃。无损法测量由于具有不破坏样品、简便迅速测定厚度等特点，正被广泛应用。无损法一般有磁性法、涡流法、超声测厚法、X 射线荧光测厚等方法。现有的带钢厚度检测仪结构复杂，检测的参数不能实时发送至监控仪，工作人员不能在第一时间发现厚度异常，造成较大的材料浪费；另外检测抗干扰性能差，影响检测精度。

发明内容

本发明的目的在于提供一种X射线非接触式钢冷轧板带厚度测量装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种X射线非接触式钢冷轧板带厚度测量装置, 包括传送机构、检测探头、X射线源以及主电柜计算机，所述传送机构包括传送辊和传送带，所述传送带绕在传送辊上，所述传送机构上传送带钢，所述检测探头设置在带钢上端，所述X射线源设置在带钢下方，且与所述检测探头正对设置，所述主电柜计算机设置在传送机构一侧，且与所述检测探头电性连接，所述主电柜计算机包括外壳，所述外壳上设有显示屏，所述外壳内设有微处理器、显示模块、存储模块、报警模块、A/D转换模块，所述微处理器分别连接显示模块、存储模块、报警模块，所述检测探头通过A/D转换模块连接微处理器。

优选的，所述检测探头包括金属外壳体，所述金属外壳体内部分别设有气体电离室、前置放大板以及高压模块，所述气体电离室前端设有窗口，所述气体电离室与前置放大板相连，所述高压模块电性连接气体电离室，所述前置放大板上设有高倍低噪声运算放大模块，还包括屏蔽装置，所述屏蔽装置固定设置在窗口外侧。

优选的，所述高倍低噪声运算放大模块包括运算放大器、两级场效应宽带放大器以及扼流线圈，所述运算放大器的一个输入端分别连接电阻B一端和电容B一端，电容B另一端接地，电阻B另一端分别连接电阻A一端和电容A一端，电容A另一端连接运算放大器的输出端，运算放大器的另一输入端分别连接电阻C一端和电阻D一端，电阻C另一端接地，电阻D另一端连接运算放大器的输出端；所述两级场效应宽带放大器的第一端连接电容E一端，电容E另一端连接电阻F一端，电阻F另一端连接运算放大器的输出端，两级场效应宽带放大器的第二端通过扼流线圈分别连接电容F一端、电容G一端、电容H一端，且电容F另一端、电容G另一端、电容H另一端均接地，两级场效应宽带放大器的第三端通过电容D、电阻E连接运算放大器的输出端，两级场效应宽带放大器第四端接地。

优选的，所述X射线源包括射线源壳体，所述射线源壳体内设有大功率X射线管，所述射线源壳体一侧设有进水接头和出水接头以及高压电缆接头法兰，所述射线源壳体上端安装有样板箱，所述样板箱内部设有快门装置以及标准样板，所述快门装置采用厚铅板制作而成，所述快门装置和标准样板均电性连接电磁驱动马达。

优选的，所述检测探头与带钢上表面之间的距离为20mm-30mm。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：

（1）本发明结构设计新颖，采用非接触方式来检测带钢镀层的厚度，检测精度高、准确性高。

（2）本发明采用的检测探头能够快速检测穿透钢板的X射线强度，采用的高倍低噪声运算放大模块，能够稳定的实现对微弱信号进行放大、且失真度低。

（3）本发明采用的X射线源结构设计新颖，冷却效果好，使用寿命长，同时能够实现宽范围的精确测量。

附图说明

图1为本发明的整体结构示意图；

图2为本发明的控制原理框图；

图3为本发明的检测探头结构示意图；

图4为本发明的高倍低噪声运算放大模块原理图；

图5为本发明的X射线源结构示意图。

具体实施方式