[发明专利]用于测量散射光谱的比色皿及其光学系统有效
| 申请号： | 201610357160.0 | 申请日： | 2016-05-25 |
| 公开（公告）号： | CN105891114B | 公开（公告）日： | 2019-03-29 |
| 发明（设计）人： | 粟晖;姚志湘 | 申请（专利权）人： | 广西科技大学 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01N21/64;G01N21/65 |
| 代理公司： | 柳州市荣久专利商标事务所(普通合伙) 45113 | 代理人： | 周小芹 |
| 地址： | 545006 广西*** | 国省代码： | 广西;45 |
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| 摘要： | 一种用于测量散射光谱的比色皿及其光学系统，涉及一种比色皿及其光学系统，其中，比色皿包括比色皿本体，比色皿本体的纵截面为斜腰是弧形凹面的直角梯形结构，比色皿本体的各面均透光，且入射角θ大于56°，弧形凹面与比色皿本体的中垂线h相交于沿垂直方向上3:7的位置。光学系统包括激发光源、狭缝Ⅰ、上述比色皿、光电检测器，激发光源、狭缝Ⅰ设置在比色皿本体的平面一侧，光电检测器设置在弧形凹面的焦点处。本发明利用全反射原理，扩大了激发光和散射光之间的间隔，阻止了激发光进入检测器；同时通过弧形凹面汇集散射光，提高了进入检测器的光通量及光利用率，可用于液体样品的荧光、磷光或拉曼光等受激发产生的散射光测量。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 散射 光谱 比色 及其 光学系统 | ||
【主权项】：
1.一种用于测量散射光谱的比色皿（1），包括比色皿本体（11），其特征在于：该比色皿本体（1）的纵截面为斜腰是弧形凹面（111）的直角梯形结构，比色皿本体（11）的各面均透光。
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