[发明专利]测量装置和测量系统在审
| 申请号： | 201610343955.6 | 申请日： | 2016-05-23 |
| 公开（公告）号： | CN106198328A | 公开（公告）日： | 2016-12-07 |
| 发明（设计）人： | 高须良三 | 申请（专利权）人： | 富士通株式会社 |
| 主分类号： | G01N15/06 | 分类号： | G01N15/06;G01N33/00 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 杜诚;陈炜 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供了一种测量装置和测量系统。所述测量装置包括：浓度测量单元，其测量气体中颗粒的颗粒数量浓度；湿度测量单元，其在浓度测量单元测量颗粒数量浓度时对颗粒所暴露于的周围环境的湿度进行测量；第一壳体，其中容纳有浓度测量单元和湿度测量单元，第一壳体具有第一入口和第一出口；以及第一排气单元，其将第一壳体中的气体从第一出口排出；其中，湿度测量单元被设置在从第一入口至第一出口的气体流动路径中浓度测量单元的上游。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 装置 系统 | ||
【主权项】：
一种测量装置，包括：浓度测量单元，其测量气体中颗粒的颗粒数量浓度；湿度测量单元，其在所述浓度测量单元测量颗粒数量浓度时对所述颗粒所暴露于的周围环境的湿度进行测量，当根据信息计算所述气体中颗粒的质量浓度时使用所述湿度，所述信息指示所述颗粒的质量与所述颗粒所暴露于的周围环境的湿度的相关性、由所述浓度测量单元测量的颗粒数量浓度、以及所述颗粒所暴露于的周围环境的湿度；第一壳体，其中容纳有所述浓度测量单元和所述湿度测量单元，所述第一壳体具有第一入口和第一出口；以及第一排气单元，其将所述第一壳体中的气体从所述第一出口排出；其中，所述湿度测量单元被设置在从所述第一入口至所述第一出口的气体流动路径中所述浓度测量单元的上游。
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