[发明专利]用于热处理单元的校正方法有效

专利信息
申请号: 201610320253.6 申请日: 2016-05-13
公开(公告)号: CN106158623B 公开(公告)日: 2021-07-06
发明(设计)人: S·穆热尔;D·马斯兰 申请(专利权)人: SOITEC公司
主分类号: H01L21/324 分类号: H01L21/324
代理公司: 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 代理人: 程伟;王锦阳
地址: 法国*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 用于热处理单元的校正方法。用于确定温度设定点修正值的校正方法,该修正值将应用到具有L个衬底位置的热处理单元的N个加热区中的每个的额定温度设定点,热处理单元和额定设定点限定了旨在建立衬底的目标特性的方法。该校正方法的特征在于,其包括以下步骤:建立敏感度模型,其将L个位置的M个代表性位置中的每个处的衬底特性变化联系到应用在N个加热区中的每个的温度设定点变化,这些变化分别反映相对于目标特性的差值以及相对于额定设定点的差值;基于额定设定点在热处理单元中执行工艺;至少在单元的每个加热区的代表性测量位置测量衬底特性,以提供M个测量值;根据敏感度模型、测量值以及目标衬底特性来确定温度设定点修正值。
搜索关键词: 用于 热处理 单元 校正 方法
【主权项】:
一种用于确定温度设定点修正值的校正方法,所述温度设定点修正值将应用到具有L个衬底位置(5)的热处理单元(1)的N个加热区(2)中的每一个的额定温度设定点,所述热处理单元(1)和额定设定点限定了旨在建立衬底的目标特性的方法,所述校正方法的特征在于,其包括下列步骤:·建立敏感度模型,所述敏感度模型将L个位置(5)的M个代表性位置中的每一个位置处的衬底特性的变化联系到应用至N个加热区(2)中的每一个中的温度设定点变化,这些变化分别反映了相对于目标特性的差值以及相对于额定设定点的差值;·基于额定设定点在热处理单元(1)中执行工艺;·至少在单元(1)的每个加热区(2)的代表性的测量位置处测量衬底的特性,以提供M个测量值;·根据敏感度模型、测量值以及目标衬底特性来确定温度设定点修正值。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于SOITEC公司,未经SOITEC公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610320253.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top