[发明专利]基于极化相似因子的微弱变化检测方法有效
申请号: | 201610316587.6 | 申请日: | 2016-05-12 |
公开(公告)号: | CN106023167B | 公开(公告)日: | 2019-01-11 |
发明(设计)人: | 刘洋池;杨郭;周迅;刘敏;梁岱宗 | 申请(专利权)人: | 四川长虹电器股份有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06K9/32;G06K9/46 |
代理公司: | 四川省成都市天策商标专利事务所 51213 | 代理人: | 刘兴亮 |
地址: | 621000 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种基于极化相似因子的微弱变化检测方法,所述的方法包括:先获得极化图像通道间的复相关系数,用于提取图像通道间的特征信息;然后从极化图像通道间的复相关系数的直方图中提取极化相似因子,用于检测图像之间的微弱变化。本发明采用多极化微波设备获取兴趣目标的多维度数据,提取数据中的多极化信息,通过分析处理得到目标的微弱变化检测结果。本发明增强了目标的微弱变化检测性能和准确率,提高了检测速率。 | ||
搜索关键词: | 基于 极化 相似 因子 微弱 变化 检测 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于极化相似因子的微弱变化检测方法,其特征在于:所述的方法包括以下步骤:(1)利用微波传感器获取极化图像HH通道和VV通道的数据矩阵SHH、SVV,设定极化图像长×宽为H×W,则矩阵SHH、SVV各有H×W个元素,由此计算出此极化图像通道间的复相关系数γ,计算公式为:
其中,
式中,N0=H×W,
为矩阵SHH的第k个元素,
为矩阵SVV的第k个元素,
为
的伴随矩阵;(2)对于同一地点不同时间获得的极化图像A和极化图像B,运用步骤(1)所述的公式分别计算出极化图像A和极化图像B各自的HH通道和VV通道间的复相关系数γA和γB;(3)计算极化相似因子在极化图像A和极化图像B中设置一个兴趣像素点P,然后以该兴趣像素点P为中心放置一个n×n的滑窗,根据以下公式计算极化图像A和极化图像B的兴趣像素点P的极化相似因子SF(A,B)P:
其中,![]()
式中,γA,γB是极化图像A和极化图像B对应的通道间的复相关系数,
和
是对应滑窗内通道间的复相关系数的直方图,N1=n×n是滑窗的直方图中像素的个数;
式中,
是对应滑窗内通道间的复相关系数的联合直方图,N2=n×n是滑窗的联合直方图中像素的个数;(4)获取极化相似因子矩阵重新选择一个兴趣像素点Q,同时以该兴趣像素点Q为中心移动滑窗,计算新的滑窗里的极化相似因子SF(A,B)Q,再次重选新的兴趣像素点和计算新的滑窗里的极化相似因子,直到选择的兴趣像素点遍历完所有的像素点,获得所有H×W个兴趣像素点的极化相似因子,组成一个H×W的极化相似因子矩阵;(5)采用自适应门限获取方法设定门限,步骤(4)中所述的极化相似因子矩阵低于门限的部分为检测出的变化区域;通过以上所述的步骤,即可提取出极化图像A和极化图像B之间的极化相似因子,从而得到变化检测结果。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于四川长虹电器股份有限公司,未经四川长虹电器股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610316587.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。