[发明专利]太阳能电池浆料的性能测试方法有效
| 申请号： | 201610181804.5 | 申请日： | 2016-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN105845595B | 公开（公告）日： | 2018-07-17 |
| 发明（设计）人： | 魏青竹;汪燕玲;陆俊宇;连维飞;倪志春 | 申请（专利权）人： | 苏州腾晖光伏技术有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66 |
| 代理公司： | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人： | 孙仿卫 |
| 地址： | 215542 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供一种太阳能电池浆料的性能测试方法，其方法简单、成本低。一种太阳能电池浆料的性能测试方法，包括如下步骤：S1、提供具有栅线图形的印刷网版；S2、取浆料和硅片，通过所述印刷网版在所述硅片上印刷栅线并烧结；S3、将两个探针压在烧结后的硅片的栅线上，将两个所述探针分别连接在恒压电流源的正负极以施加测试电压，测浆料的电阻。 | ||
| 搜索关键词： | 太阳能电池浆料 性能测试 硅片 印刷网版 烧结 探针 栅线 测试电压 栅线图形 电流源 正负极 电阻 恒压 浆料 取浆 施加 印刷 | ||
【主权项】：
1.一种太阳能电池浆料的性能测试方法，其特征在于，包括如下步骤：S1、提供具有栅线图形的印刷网版；S2、取浆料和硅片，通过所述印刷网版在所述硅片上印刷栅线并烧结；S3、将两个探针压在烧结后的硅片的栅线上，将两个所述探针分别连接在恒压电流源的正负极以施加测试电压，测浆料的电阻；步骤S1包括：S11、在印刷网版上设置至少两个相互平行且长度相等的第一栅线图形，各相邻第一栅线图形的间距呈等差数列；步骤S2中，通过所述印刷网版在所述硅片上印刷形成多个相互平行且长度相等的细栅线，各相邻细栅线的间距呈等差数列；步骤S3包括：S31、将两个所述探针分别压在相邻细栅线上，测得浆料在相邻细栅线间的接触电阻；S32、将两个所述探针分别依次压在各相邻细栅线上，测得正银浆料在各相邻细栅线间的接触电阻，获得接触电阻与细栅线间距的线性方程，得出浆料的接触电阻率。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
