[发明专利]一种面板的检测方法及其检测系统有效
| 申请号： | 201610173568.2 | 申请日： | 2016-03-24 |
| 公开（公告）号： | CN105589234B | 公开（公告）日： | 2018-09-11 |
| 发明（设计）人： | 薛静;朱红;许倩文;谷玥;刘洪泽;赵亮;王海金 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 黄志华 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种面板的检测方法及其检测系统，该方法包括：对测试样品组进行高温信赖性测试，确定测试样品组中出现缺陷的面板；测试样品组为包括未切割的多个面板的标准面板组；将测试样品组进行拆解得到包含多个阵列基板的母板，根据阵列基板的TFT的栅极截止电压值，确定出现缺陷的面板中阵列基板的TFT的与栅极截止电压值对应的漏电流值；若确定的漏电流值与预先确定的标准关态电流值之间的差值小于或等于设定阈值，判断阵列基板的TFT合格；若否，则判断未合格。本发明实施例提供的方法可以在未将标准面板组制成模组之前，及时判断标准面板组中阵列基板的TFT是否合格，节约了工艺制程的时间，以及降低了成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 面板 检测 方法 及其 系统 | ||
【主权项】：
1.一种面板的检测方法，其特征在于，包括：对测试样品组进行高温信赖性测试，确定所述测试样品组中出现缺陷的面板；所述测试样品组为包括未切割的多个面板的标准面板组；所述高温信赖性测试的温度范围设置在50摄氏度至70摄氏度之间；将所述测试样品组进行拆解得到包含多个阵列基板的母板，根据阵列基板的TFT的栅极截止电压值，确定所述出现缺陷的面板中阵列基板的TFT的与所述栅极截止电压值对应的漏电流值；若确定的所述漏电流值与预先确定的标准关态电流值之间的差值小于或等于设定阈值，判断所述测试样品组中阵列基板的TFT合格；若否，则判断所述测试样品组中阵列基板的TFT未合格。
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