[发明专利]一种利用聚焦离子束制备大尺寸透射样品的加工方法有效
申请号: | 201610165230.2 | 申请日: | 2016-03-22 |
公开(公告)号: | CN105842045B | 公开(公告)日: | 2018-12-07 |
发明(设计)人: | 孙巧艳;寇文娟;黄明达;陈威;肖林;孙军 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 |
主分类号: | G01N1/44 | 分类号: | G01N1/44 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 陆万寿 |
地址: | 710049 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 一种利用聚焦离子束制备大尺寸透射样品的加工方法,包括首先对试样完成顶部保护;然后进行样品提取,提取时保证试样一侧完全与基体相连的情况下,刻蚀样品底面与另外一个侧面,使刻蚀后试样底面能够完全穿透,形成L形的悬臂梁式结构,同时避免试样与基体发生断裂;之后将原位纳米操纵杆与样品进行焊接,在确认样品与基体无粘连后,通过移动原位纳米操纵杆提取出样品,将提取出的样品转移至载样铜网,使原位纳米操纵杆与样品分离,焊接确保样品与铜网两个柱头固定牢靠;最后采用对称切割的方式对样品两面进行均匀减薄,得到透射样品。本发明能够有效地避免透射样品在制备过程中发生弯曲变形。 | ||
搜索关键词: | 一种 利用 聚焦 离子束 制备 尺寸 透射 样品 加工 方法 | ||
【主权项】:
1.一种利用聚焦离子束制备大尺寸透射样品的加工方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一、向试样顶端所需观测部分区域沉积Pt,完成试样顶部保护;步骤二、样品提取;2.1)确定刻蚀面积及刻蚀深度对试样进行初步加工;2.2)完成第一次刻蚀后,倾转载物台,修整试样侧面的锥度;2.3)保证试样一侧完全与基体相连的情况下,利用离子束刻蚀样品底面与另外一个侧面,使刻蚀后试样底面能够完全穿透,形成L形的悬臂梁式结构,同时避免试样与基体发生断裂;2.4)将原位纳米操纵杆与样品进行焊接;2.5)利用离子束将样品与基体连接处切断,在确认样品与基体无粘连后,通过移动原位纳米操纵杆提取出样品;2.6)将提取出的样品转移至载样铜网,沉积Pt使得样品底部两端点与铜网柱头同时紧固,利用离子束刻蚀使原位纳米操纵杆与样品分离,焊接确保样品与铜网柱头固定牢靠;步骤三、采用对称切割的方式对样品两面进行均匀减薄,减薄过程中两面交替减薄,得到透射样品。
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