[发明专利]一种铁基单晶超导微桥的制备方法有效
申请号: | 201610152652.6 | 申请日: | 2016-03-17 |
公开(公告)号: | CN105742478B | 公开(公告)日: | 2018-06-26 |
发明(设计)人: | 王华兵;杨志保;孙汉聪;吕阳阳;李军;吴培亨 | 申请(专利权)人: | 南京大学 |
主分类号: | H01L39/24 | 分类号: | H01L39/24 |
代理公司: | 南京申云知识产权代理事务所(普通合伙) 32274 | 代理人: | 邱兴天 |
地址: | 210000 江苏省南京市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种铁基单晶超导体微桥的制备方法,在平整的铁基超导单晶表面直接光刻图形,通过氩离子束刻蚀控制样品厚度,运用翻面技术,经过解理、热蒸发金电极、光刻微桥图形和离子束刻蚀,就可以得到理想厚度的铁基超导单晶微桥样品。该制备方法简单、可操作、样品厚度可控,可缩短样品制备周期并提高样品制备成功率。通过该制备工艺制备出的样品具有厚度可控、高质量、尺寸精度高等优点。 | ||
搜索关键词: | 铁基 制备 微桥 超导单晶 厚度可控 样品制备 单晶 超导体 离子束刻蚀 超导微桥 制备工艺 氩离子束 金电极 可操作 热蒸发 直接光 翻面 光刻 解理 刻蚀 成功率 平整 | ||
【主权项】:
1.一种铁基单晶超导体微桥的制备方法,其特征在于:在平整的铁基超导单晶表面直接光刻图形,通过氩离子束刻蚀控制样品厚度,运用翻面技术,经过解理、热蒸发金电极、光刻微桥图形和离子束刻蚀,就可以得到理想厚度的铁基超导单晶微桥样品;具体包括以下步骤:1)选用一块铁基超导FeTeSe单晶,用epoxy胶粘黏到硅基片上,使单晶的平整一面与硅片相贴合;把粘贴好的样品置于110℃烘台上烘烤1.5小时,使胶完全固化;2)等样品完全固定在硅基片后,用透明胶带解理出新鲜平整的单晶平面,通过紫外光刻技术,做出一个长度为230μm、宽度为210μm的图形;3)选用的光刻胶为AZ1500,旋涂条件为:匀胶机低转速600r/min,高转速6000r/min,光刻胶厚度为800nm;4)把光刻后的样品放入氩离子束刻蚀机中,刻蚀6分钟;把刻蚀好的样品置入丙酮中去除光刻胶,形成了一个厚度为90nm mesa结构;5)通过翻面技术把样品转移粘贴到干净的氧化镁基底4上,用epoxy胶固定并置于90℃的烘台上烘烤2小时,使胶完全固化;6)把翻面后的样品重新用透明胶带解理,将顶层的大块单晶去掉,直至解理到只剩下mesa单晶,然后把样品迅速放入蒸金仪中热蒸发一层厚度为50nm金膜作为电极;7)利用紫外曝光光刻技术,在电极上刻出一个宽度为4μm,长度为20μm六端子图形的微桥;8)把光刻好的样品放入离子束刻蚀机中,氩离子铣样品12分钟,把未被光刻胶保护的单晶全部刻蚀掉;9)在丙酮中去除电极顶部的光刻胶后,再次通过光刻技术和离子束刻蚀技术去除微桥上的金膜,形成最终的FeTeSe超导单晶微桥。
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