[发明专利]像素缺陷的处理方法及处理系统有效
| 申请号： | 201610151029.9 | 申请日： | 2016-03-16 |
| 公开（公告）号： | CN105607313B | 公开（公告）日： | 2019-01-11 |
| 发明（设计）人： | 胡慧敏;陈中明 | 申请（专利权）人： | 武汉华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 深圳市铭粤知识产权代理有限公司 44304 | 代理人： | 孙伟峰;武岑飞 |
| 地址： | 430070 湖北省武汉市*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种像素缺陷的处理方法，其包括：检测出显示面板上的缺陷可疑像素；对缺陷可疑像素进行点过滤处理。本发明还提供了一种像素缺陷的处理系统，其利用所述像素缺陷的处理方法对显示面板上的缺陷可疑像素进行处理。根据本发明的像素缺陷的处理方法及处理系统，当对显示面板上的像素进行缺陷检查时，既不会出现漏检、误检的情形，也不会出现检查溢出现象。 | ||
| 搜索关键词： | 像素 缺陷 处理 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种像素缺陷的处理方法，其特征在于，包括：检测出显示面板上的缺陷可疑像素；对缺陷可疑像素进行点过滤处理；其中，对缺陷可疑像素进行点过滤处理的具体方法包括：确定环绕包围缺陷可疑像素的上像素、下像素、左像素、右像素、左上像素、右上像素、左下像素、右下像素；判断环绕包围缺陷可疑像素的上像素、下像素、左像素、右像素、左上像素、右上像素、左下像素、右下像素中是否存在至少两个为缺陷可疑像素；其中，若不存在，则将被环绕包围的缺陷可疑像素过滤掉；若存在，则将被环绕包围的缺陷可疑像素保留。
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