[发明专利]一种ZnO/Mo/ZnO透明导电薄膜的制备方法在审

专利信息
申请号: 201610148702.3 申请日: 2016-03-16
公开(公告)号: CN105734512A 公开(公告)日: 2016-07-06
发明(设计)人: 廉吉庆;张大伟;王小平;王丽军;王兆芳;宁仁敏;宋明丽;柯小龙;陈海将;苏德龙;管璐璐;林承军 申请(专利权)人: 上海理工大学
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/08;C23C14/18
代理公司: 上海申汇专利代理有限公司 31001 代理人: 吴宝根
地址: 200093 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种ZnO/Mo/ZnO透明导电薄膜的制备方法,室温下先将基片清洗,用氮气枪吹干;然后将ZnO靶材、Mo靶材和基片放入磁控溅射反应室,将反应室抽真空,打开温控电源,将基片加热,向反应室通入氩气和氧气的混合气,开启ZnO靶材一侧的射频电源,溅射ZnO靶材;将反应室重新抽真空,开启Mo靶材一侧的射频电源,溅射Mo靶材;将反应室重新抽真空,再开启ZnO靶材一侧的射频电源,溅射ZnO靶材;然后将样品取出,放到马弗炉中退火,冷却后得到ZnO/Mo/ZnO叠层结构透明导电薄膜。本发明利用ZnO的良好光电性能和Mo的低电阻率,制备成叠层ZnO/Mo/ZnO透明导电薄膜。
搜索关键词: 一种 zno mo 透明 导电 薄膜 制备 方法
【主权项】:
一种ZnO/Mo/ZnO透明导电薄膜的制备方法,其特征在于包括如下步骤:1)室温下将基片清洗,然后用氮气枪将其吹干;2)打开磁控溅射反应室,把纯度为99.999%的ZnO靶材和Mo靶材固定在反应室中,将基片放入磁控溅射反应室,将反应室抽真空到9.9×10‑4Pa,打开温控电源,将基片加热到300~400℃,待基片温度均匀后,向反应室通入氩气和氧气的混合气,所述的氩气和氧气的体积比为(3~8):1,开启ZnO靶材一侧的射频电源,将溅射功率调至40~100W,调节压强至2~5Pa,打开挡板,溅射8~16min40s,ZnO厚度为45~65nm;3)将反应室重新抽真空至9.9×10‑4Pa,开启Mo靶材一侧的射频电源,将溅射功率调至75~100W,向反应室通入氩气,调节压强至0.4~0.6Pa,打开挡板,溅射10~40s,Mo层厚度在5~15nm;4)将反应室重新抽真空至9.9×10‑4Pa,再开启ZnO靶材一侧的射频电源,将溅射功率调至40~100W,向反应室通入氩气和氧气的混合气,所述的氩气和氧气的体积比为(3~8):1,调节压强至2~5Pa,打开挡板,溅射8~16min40s,ZnO厚度为45~65nm;5)待反应室温度降至常温,将样品取出,放到马弗炉中在150~400℃退火1h,冷却至常温,得到ZnO/Mo/ZnO叠层结构透明导电薄膜。
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