[发明专利]一种图像对称轴检测方法有效
申请号: | 201610146362.0 | 申请日: | 2016-03-14 |
公开(公告)号: | CN105825528B | 公开(公告)日: | 2018-07-10 |
发明(设计)人: | 修春波;巴富珊;王甜甜 | 申请(专利权)人: | 天津工业大学 |
主分类号: | G06T7/60 | 分类号: | G06T7/60;G06K9/62 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 300387 *** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明属于图像处理与图像理解领域,具体为一种图像对称轴检测方法。对图像进行特征点检测,采用聚类分析方法实现特征点集的聚类。利用随机抽样的方式在各个特征点集中进行多次点对抽取,根据点对垂直平分线的参数建立候选对称轴参数的核函数方程,总核函数的峰值点对应图像对称轴的参数,由此实现图像对称轴的自动检测。本发明方法简便、结果准确,适用于图像理解领域中。 | ||
搜索关键词: | 对称轴 图像 图像理解 核函数 垂直平分线 特征点检测 参数建立 聚类分析 随机抽样 特征点集 图像处理 自动检测 峰值点 特征点 检测 聚类 抽取 | ||
【主权项】:
1.一种图像对称轴检测方法,其特征在于,对图像进行特征点检测,采用聚类分析方法实现特征点集的聚类,利用随机抽样的方式在各个特征点集中进行多次点对抽取,根据点对垂直平分线的参数建立候选对称轴参数的核函数方程,总核函数的峰值点对应图像对称轴的参数;采用Harris角点检测方法检测图像中的角点,将检测出的角点作为特征点,将特征点处的像素灰度值、邻域灰度差值以及纹理特征值组成特征点的特征向量,利用C均值聚类方法实现特征点的聚类分析,将聚类评价指标J为最大的聚类结果作为最终的聚类结果,其中,
SW为总的类内离差阵,SB为类间离差阵;根据随机抽样点对的垂直平分线的参数,建立的候选对称轴参数的核函数方程为:
其中,σ1、σ2、σ3为核函数参数,a(i)0,b(i)0,θ(i)0分别为候选对称轴i上的一点的横纵坐标及候选对称轴i的倾角,a、b和θ为任一条直线的参数,即(a,b)为直线上的一点,θ为直线的倾角,所有候选对称轴形成的总核函数为F:
使总核函数F取得最大值时的直线参数(a0,b0,θ0)所确定的直线即为图像的主对称轴。
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