[发明专利]一种基于局部近邻嵌入核函数的仪表定位方法及使用载体有效
申请号: | 201610145814.3 | 申请日: | 2016-03-15 |
公开(公告)号: | CN105825215B | 公开(公告)日: | 2019-07-19 |
发明(设计)人: | 陶大鹏;杜烨宇;贺康建 | 申请(专利权)人: | 云南大学 |
主分类号: | G06K9/32 | 分类号: | G06K9/32;G06K9/46 |
代理公司: | 昆明大百科专利事务所 53106 | 代理人: | 王辉 |
地址: | 650091*** | 国省代码: | 云南;53 |
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摘要: | 本发明涉及一种基于局部近邻嵌入核函数的仪表定位方法及其使用载体,包括以下步骤:1)定义一个核函数,初步提取图像特征;2)降维并提取图像显著特征;3)相似性度量;4)显著性检验;5)通过非极大值抑制方法,将相似性小于某一阈值的区域排除,保留最大相似区域,最终得到仪表定位结果。本发明采用局部近邻嵌入核函数算法,先初步提取图像特征,再运用邻域保持嵌入算法(NPE)算法降维提取其显著特征,划分显著特征区域,再结合矩阵余弦相似性、显著性检验及非极大值抑制方法实现仪表定位,既可以确保匹配的准确度,又可以提高定位速度。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 局部 近邻 嵌入 函数 仪表 定位 方法 及其 使用 载体 | ||
【主权项】:
1.一种基于局部近邻嵌入核函数的仪表定位方法,其特征在于,包括以下步骤:1)定义一个核函数,初步提取图像特征,其步骤为,首先计算图像局部特征,定义如下核函数表达式:![]()
是空间坐标,P2是局部窗(P×P)中像素点的数目,取其大小为(7×7);Hl为转向矩阵,其表达式为
h是一个全局平滑参数;矩阵Cl是通过计算每个像素点的梯度向量G得到的协方差矩阵,计算公式为:
其中,矩阵V和S是梯度向量G通过奇异值分解Singular Value Decomposition,SVD得到的,式(2)中V1、V2分别表示矩阵V的第一列的列向量和第二列的列向量,
和
分别表示列向量V1和V2的转置;ε是一个常量,取值范围为(0,1);系数
K是半径为P的圆形区域均值滤波器参数,α是灵敏度参数;选用高斯函数作为核函数K(·),得到如下描述子:
对查询图像Q和目标图像T分别运用上述核计算得到描述子WQ和WT:![]()
其中,
和
分别是构成矩阵WQ和WT的列向量,列向量
的第l维计算过程为:![]()
目标图像T共分成n个m×m大小的子块,每个子块用Ti表示,m2是图像子块Ti的大小;
表示式(3)中,当x=xj时,核函数K(·)的值,即
2)降维并提取图像显著特征,即运用邻域保持嵌入算法提取其显著特征,其步骤为,采用邻域保持嵌入算法(NPE)对WQ降维;在进行数据降维之前,先将矩阵WQ中的每个向量
划分成N个子块,每个子块包含一个特征向量以及与之相关的几个向量,这些子块的划分取决于数据集的特征及算法的目标;WQ中任意列向量
的k邻近表示为
则用![]()
来表示每一个子块,对于每一个
都有一个局部映射f:![]()
降维后的子矩阵
定义局部最优函数为:
其中,tr(·)称为迹算子,Lu∈R(k+1)×(k+1),每个子块的目标函数取决于Lu,不同的算法中Lu是不相同的;每个
对应一个低维矩阵
所有的
可以合成矩阵
则:
其中,Su∈Rn×(k+1)是选择矩阵;将式(7)代入(6),局部最优函数的表达式变为:arg min tr(FQSuLuSuTFQT), (8)对其求和便得到全局最优函数:
其中,
是目标一致性矩阵,通过以下迭代过程得到:L(Nu,Nu)←L(Nu,Nu)+Lu (10)其中,Nu={u,u1,…,uk},是第u个子矩阵
或
中向量的标识,u=1,…,n,初始值L=0,L(Nu,Nu)是在目标一致性矩阵L中根据Nu来选择几个特定的行或者列得到的子矩阵;为了唯一地确定FQ,在公式(9)的基础上限制FQFQT=Id,Id是一个d×d的单位矩阵;那么,目标函数就可以定义为:arg min tr(FQLFQT),当FQFQT=Id (11)对于线性降维,降维后的矩阵与原矩阵之间有如下的映射关系:FQ=AQTWQ, (12)将式(12)代入(11)得到如下目标函数:arg min tr(AQTWQLWQTAQ),当AQTWQWQTAQ=Id (13)NPE通过线性表示列向量
来反映图像的局部几何结构,从高维特征矩阵WQ中选取
将向量
用
线性表示为如下形式:
其中,cu是用来编码重构参数的k维向量,εu是重构误差;误差的最小化方法为:
假设cu既可以作为
的系数来线性表示高维空间的向量
也可以作为
的系数线性表示低维子空间的向量
这样,NPE的目标函数可以重构为:
令
则上式可写成:
其中,
得到Lu以后,结合公式(10)、(11)就可以得到低维特征矩阵FQ,表示为:
同理,在目标图像T中通过FT=AQTWT的映射关系,可以得到特征矩阵WT经降维后的低维显著特征矩阵FT:
3)相似性度量,即采用矩阵余弦相似性作为判决准则,比较特征矩阵之间的相似性;4)显著性检验,即对目标图像进行显著性检验找到所有可能相似的对象,并进行标注,划分出显著特征区域;5)通过非极大值抑制方法,将相似性小于某一阈值的区域排除,保留最大相似区域,最终得到仪表定位结果。
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