[发明专利]测试装置、测试信号供给装置及测试方法在审
| 申请号： | 201610115634.0 | 申请日： | 2016-02-29 |
| 公开（公告）号： | CN106569051A | 公开（公告）日： | 2017-04-19 |
| 发明（设计）人： | 高桥公二 | 申请（专利权）人： | 爱德万测试株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 深圳新创友知识产权代理有限公司44223 | 代理人： | 江耀纯 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明减少测试装置中设置的模式产生器的数量并且降低测试成本。本发明提供了对被测试装置进行测试的测试装置和测试方法，包括包发送部，在被测试装置的测试中，将需供给至被测试装置的测试模式进行模式化并进行发送；包传送部，传送由包发送部发送的包；包接收部，接收通过包传送部传送的测试模式；缓冲部，缓冲由包接收部接收的测试模式；以及测试信号供给部，将与从缓冲部得到的测试模式对应的测试信号供给至被测试装置。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 装置 信号 供给 方法 | ||
【主权项】：
一种测试装置，用于测试被测试装置，其特征在于，包括：包发送部，在所述被测试装置的测试中，将需供给至所述被测试装置的测试模式进行模式化并进行发送；包传送部，传送由所述包发送部发送的包；包接收部，接收通过所述包传送部传送的测试模式；缓冲部，缓冲由所述包接收部接收的测试模式；以及测试信号供给部，将与从所述缓冲部得到的测试模式对应的测试信号供给至所述被测试装置。
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