[发明专利]一种智能控制缺陷存储数据读取的方法

摘要

本发明公开了一种智能控制缺陷存储数据读取的方法，包括以下步骤：S1：发送请求；S2：等待接收同步信号；S3：读取数据，在数据读取过程中会对读取参数进行修正，S4：读取数据区数据成功则转到S5，否则转到S7；S5：如果硬盘状态不为忙则转到S6，否则转到S7；S6：耗时时间小于20ms则设为高速模式，执行S8，否则转到S7；S7：硬盘复位，读取速度设为低速模式；S8：将读取成功的数据返回至上层界面供用户查看。本发明的有益效果如下：可以统计已经处理过的区域的硬盘状况，读取过程会实时监测硬盘的坏道缺陷状况，根据缺陷状况修正读取的模式：高速或者低速，调整读取的单位大小，单次读取的精度，在保证数据读取完整性的同时保证数据读取效率。

主权项

1.一种智能控制缺陷存储数据读取的方法，其特征在于包括以下步骤：S1：发送文件浏览请求或数据镜像请求或分区查找请求，发送同步信号；S2：等待接收S1传输的所述同步信号，所述同步信号应用于多线程数据访问互斥，起到坏硬盘的单步读取，避免磁头发生过大偏移；S3：接收到信号后开始读取数据，在数据读取过程中会对读取参数进行修正，执行S4；S4：读取数据区数据，如果读取数据区数据成功则转到S5，否则转到S7；S5：通过api接口读取硬盘寄存器得到硬盘状态信息，如果硬盘状态不为“BUSY”则转到S6，否则转到S7；S6：计算耗时时间，所述耗时时间为每次发送读取开始计时，读取结束后结束计时，如果耗时时间小于20ms则将读取速度设为高速模式，所述高速模式是一次读取128个块，执行S8，否则转到S7；S7：硬盘执行复位操作，并执行改变读取模式，则将读取速度设为低速模式，所述低速 模式是一次读取1个块，执行S8；S8：等待所有数据读取完成则释放读取完成的同步信号，将读取成功的数据返回至上层界面供用户查看。