[发明专利]一种用于磁偏角设备中测试基准面的校准方法在审
| 申请号： | 201610059645.1 | 申请日： | 2016-01-28 |
| 公开（公告）号： | CN105699918A | 公开（公告）日： | 2016-06-22 |
| 发明（设计）人： | 黄可可 | 申请（专利权）人： | 宁波兴隆磁性技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R33/02 | 分类号： | G01R33/02;G01R35/02 |
| 代理公司： | 余姚德盛专利代理事务所(普通合伙) 33239 | 代理人： | 周积德 |
| 地址： | 315135 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于磁偏角设备中测试基准面的校准方法，包括以下步骤：选取一个待测产品作为基准件；将基准件放置在测试线圈测试基准面；测试出产品磁偏角数据，同时测试出该磁偏角所在的象限；依次旋转基准件45°并放置在测试线圈测试基准面；测试出产品磁偏角数据以及磁偏角所在的象限；并计算出上述产品磁偏角的平均值m，求出产品磁偏角与m之间的差值以得到上述磁偏角所在的各个象限上所在位置的平面度角度误差；系统自动修正基准面平面度角度误差，使基准面在各个方向都测试中处于一个理论水平，无角度误差的环境。本发明的用于磁偏角设备中测试基准面校准的方法，磁体元件定位和测试非常精确。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 偏角 设备 测试 基准面 校准 方法 | ||
【主权项】：
一种用于磁偏角设备中测试基准面的校准方法，其特征在于，包括以下步骤：1)、选取一个待测产品作为基准件；2)、将基准件放置在测试线圈测试基准面；测试出产品磁偏角数据；得m1，同时测试出该磁偏角所在的象限；3)、将基准件旋转45°放置在测试线圈测试基准面；测试出产品磁偏角数据；得m2，以及磁偏角所在的象限；4)、将基准件以此类推，每次旋转45°，并放置在测试线圈测试区域；测试出产品磁偏角数据，得m3、m4…m8，以及磁偏角所在的象限；5)、计算出m1、m2、m3、m4…m8的平均值m，并求出m1、m2、m3、m4…m8与m之间的差值，从而得到m1、m2、m3、m4…m8所在的各个象限上所在位置的平面度角度误差n1、n2、n3、n4…n8；6)、系统自动修正基准面平面度角度误差，使基准面在各个方向都测试中处于一个理论水平，无角度误差的环境。
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