[发明专利]一种用于磁偏角设备中测试基准面的校准方法

说明书

技术领域

本发明属于一种磁元件检测方法领域，具体涉及一种用于磁偏角 设备中测试基准面的校准方法。

背景技术

随着科学技术的发展，人们对磁性材料的测试需求越来越高。磁 偏角的测试也被纳入磁性材料的各个环节检测，但是磁偏角的测试一 直是难点。最主要原因是磁偏角测试对测试机构基准面的平面度有很 高的要求，基准面任何轻微的不平整都会造成最后测试的不准确。

如附图1-3所示，磁偏角测试基准面a在理论上要求能平行于 xy方向，垂直于y方向。但是由于加工，磨损等问题，导致基准面a 与Z方向不是垂直的。存在一个夹角θ，导致产品磁偏角测试数据与 实际数据不对应，重复误差大。

夹角θ的计算公式：θ=artcosz(x2+y2+z2)]]>

但是按照现有的加工水平，任何物体的基准面都很难绝对的平 整，现在普遍的方法是根据磁体实际的测试数据不断的调整设备的基 准面，通过在基准面底部加薄膜等很薄的物体来慢慢的使测试基准面 达到符合测试要求的平面度基准。但是这本身有很多问题，首先需要 把这个基准面调到需要测试的平面度基准很难调，需要不断的测试调 整才能完成，二是由于这些薄的材料易磨损，所以这个基准面用久了 会出现磨损，又造成测试数据的不准确。所以现有的测试机构对磁偏 角测试的校准都做的不够好，测试精度低，重复误差大，基准面难以 校准，产品旋转一个角度测试数据就不一样是一直困扰我们的问题。

发明内容

(一)要解决的技术问题

本发明要解决的技术问题是要提出一种用于磁偏角设备中测试 基准面的校准方法，以解决传统技术中定位难，测试精度低，误差大 的问题。

(二)技术方案

为解决上述技术问题，本发明所采用的技术方案是：一种用于磁 偏角设备中测试基准面的校准方法，包括以下步骤：

1)、选取一个待测产品作为基准件；

2)、将基准件放置在测试线圈测试基准面；测试出产品磁偏角 数据；得m1，同时测试出该磁偏角所在的象限；

3)、将基准件旋转45°放置在测试线圈测试基准面；测试出产 品磁偏角数据；得m2，以及磁偏角所在的象限；

4)、将基准件以此类推，每次旋转45°，并放置在测试线圈测 试区域；测试出产品磁偏角数据，得m3、m4…m8，以及磁偏角所 在的象限；

5)、计算出m1、m2、m3、m4…m8的平均值m，并求出m1、 m2、m3、m4…m8与m之间的差值，从而得到m1、m2、m3、 m4…m8所在的各个象限上所在位置的平面度角度误差n1、n2、n3、 n4…n8；

6)、系统自动修正基准面平面度角度误差，使基准面在各个方 向都测试中处于一个理论水平，无角度误差的环境。

(三)有益效果

本发明的用于磁偏角设备中测试基准面校准的方法，能校准测试 机构的基准面平面度，通过软件自动的补偿数据有效的解决了磁偏角 测试过程中设备测试基准面不平(凹凸不平，有圆弧，倾斜)，磁元 件定位难等问题。经过该方法校准，磁元件的磁偏角测试数据能更准 确，精度更高。同时磁元件在同一基准面上可以360°旋转测试，测 试数据也一样，解决了磁体元件难定位的问题。

附图说明

图1为用于磁偏角设备中测试基准面校准的结构示意图；

图2为磁元件的磁场示意图；

图3为磁元件基准面在三维坐标上的示意图；

图4为本发明的象限视图；

图5为本发明测试测试基准面的角度示意图；

图6为本发明用于磁偏角设备中测试基准面校准的方法的流程 图；