[发明专利]一种用于磁偏角设备中测试基准面的校准方法

权利要求书

1.一种用于磁偏角设备中测试基准面的校准方法，其特征在于， 包括以下步骤：

1)、选取一个待测产品作为基准件；

2)、将基准件放置在测试线圈测试基准面；测试出产品磁偏角 数据；得m1，同时测试出该磁偏角所在的象限；

3)、将基准件旋转45°放置在测试线圈测试基准面；测试出产 品磁偏角数据；得m2，以及磁偏角所在的象限；

4)、将基准件以此类推，每次旋转45°，并放置在测试线圈测 试区域；测试出产品磁偏角数据，得m3、m4…m8，以及磁偏角所 在的象限；

5)、计算出m1、m2、m3、m4…m8的平均值m，并求出m1、 m2、m3、m4…m8与m之间的差值，从而得到m1、m2、m3、 m4…m8所在的各个象限上所在位置的平面度角度误差n1、n2、n3、 n4…n8；

6)、系统自动修正基准面平面度角度误差，使基准面在各个方 向都测试中处于一个理论水平，无角度误差的环境。