[发明专利]具有局部电流吸收器的存储器装置在审

专利信息
申请号: 201610035201.4 申请日: 2011-05-10
公开(公告)号: CN105719700A 公开(公告)日: 2016-06-29
发明(设计)人: 金正丕;哈里·M·拉奥 申请(专利权)人: 高通股份有限公司
主分类号: G11C29/02 分类号: G11C29/02;G11C29/12;G11C13/00
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 宋献涛
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明涉及具有局部电流吸收器的存储器装置。本发明揭示一种具有局部电流吸收器的存储器装置。在特定实施例中,揭示一种电子装置。所述电子装置包含一个或一个以上写入驱动器。所述电子装置包含至少一个磁性隧道结MTJ,其耦合到位线且耦合到源极线。所述电子装置还包含电流吸收器电路,所述电流吸收器电路包括单个晶体管,所述单个晶体管耦合到所述位线且耦合到所述源极线。
搜索关键词: 具有 局部 电流 吸收 存储器 装置
【主权项】:
一种方法,其包括:在耦合到位线且耦合到源极线的磁性隧道结MTJ处起始第一写入操作,其中所述第一写入操作将第一电压施加到所述源极线以在所述MTJ处存储第一数据值,且其中所述第一写入操作具有第一放电路径,所述第一放电路径是从所述MTJ经由写入驱动器到接地的电流路径和从所述MTJ经由电流吸收器电路到接地的电流路径中的较短者;在所述MTJ处起始第二写入操作,其中所述第二写入操作将第二电压施加到所述位线以在所述MTJ处存储第二数据值,且其中所述第二写入操作具有从所述MTJ经由所述写入驱动器到接地的第二放电路径。
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