[发明专利]一种3D膜的校正方法及系统有效

专利信息
申请号: 201610028003.5 申请日: 2016-01-15
公开(公告)号: CN105607272B 公开(公告)日: 2018-02-06
发明(设计)人: 李申 申请(专利权)人: 上海玮舟微电子科技有限公司
主分类号: G02B27/22 分类号: G02B27/22
代理公司: 北京品源专利代理有限公司11332 代理人: 孟金喆,胡彬
地址: 201203 上海市浦东新区*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明实施例公开了一种3D膜的校正方法及系统。该方法包括A、控制贴有3D膜的第一终端根据3D膜的参数值,生成交织测试图,并通过3D膜展示生成的交织测试图;B、控制第二终端中的摄像头以设定的拍摄角度,对通过3D膜展示的交织测试图进行拍摄,以得到条纹图像;C、依据条纹图像的实际频率值和期望频率值,确定3D膜的新参数值,并返回执行步骤A,直到满足设定的参数校正条件为止。本发明实施例提供的技术方案,依据条纹图像的实际频率值和期望频率值,经过几次迭代计算,测出3D膜的实际参数值,提高了3D膜的显示效果。
搜索关键词: 一种 校正 方法 系统
【主权项】:
一种3D膜的校正方法,其特征在于,包括:A、控制贴有3D膜的第一终端根据3D膜的参数值,生成交织测试图,并通过所述3D膜展示生成的交织测试图;B、控制第二终端中的摄像头以设定的拍摄角度,对通过3D膜展示的交织测试图进行拍摄,以得到条纹图像;C、依据所述条纹图像的实际频率值和期望频率值,确定3D膜的新参数值,并返回执行步骤A,直到满足设定的参数校正条件为止;依据所述条纹图像的实际频率值和期望频率值,确定3D膜的新参数值,包括:依据如下公式,确定3D膜的水平方向上新柱状透镜线距值和垂直方向上新柱状透镜线距值:hpitch_new=hpitch/[1+hpitch×(hD‑hd)/hR];vpitch_new=vpitch/[1+vpitch×(vD‑vd)/vR];其中,hpitch_new为3D膜沿水平方向的新柱状透镜线距值,hpitch为3D膜沿水平方向的柱状透镜线距值,hD为沿水平方向的期望频率值,hd为条纹图像沿水平方向的实际频率值,hR为第一终端中屏幕沿水平方向的分辨率;vpitch_new为3D膜沿垂直方向的新柱状透镜线距值,vpitch为3D膜沿垂直方向的柱状透镜线距值,vD为沿垂直方向的期望频率值,vd为条纹图像沿垂直方向的实际频率值,vR为第一终端中屏幕沿垂直方向的分辨率。
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