[发明专利]检查装置有效
| 申请号： | 201580081482.0 | 申请日： | 2015-07-15 |
| 公开（公告）号： | CN107736086B | 公开（公告）日： | 2020-05-01 |
| 发明（设计）人： | 泽田利幸;岩岛贤史 | 申请（专利权）人： | 株式会社富士 |
| 主分类号： | H05K13/08 | 分类号： | H05K13/08;G01R31/00 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 穆德骏;谢丽娜 |
| 地址： | 日本爱知*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 在测定了电气特性之后，使元件良好地从测定件落下。一种检查装置，包括：一对测定件(34、36)，能够彼此接近或离开，且能够把持元件来测定电气特性；及空气供给装置(73)，向一对测定件(34、36)的彼此相向的一对相向面(34f、36f)的至少一方供给空气，只要通过空气供给装置(73)向至少一方的相向面(36f)供给空气，就能够至少使附着于相向面(36f)的元件(s)良好地落下。 | ||
| 搜索关键词： | 检查 装置 | ||
【主权项】：
一种检查装置，其特征在于，所述检查装置设于拾取由元件供给装置供给的元件并向电路基板安装的安装机，所述检查装置包括：一对测定件，通过彼此接近而使一对相向面夹着所述元件来测定该元件的电气特性，并通过彼此离开而从所述一对相向面放开所述元件；及空气供给装置，在所述一对测定件离开的情况下，向所述一对相向面中的至少一方即供给对象面供给空气。
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