[发明专利]检查装置

说明书

在测定了电气特性之后，使元件良好地从测定件落下。一种检查装置，包括：一对测定件(34、36)，能够彼此接近或离开，且能够把持元件来测定电气特性；及空气供给装置(73)，向一对测定件(34、36)的彼此相向的一对相向面(34f、36f)的至少一方供给空气，只要通过空气供给装置(73)向至少一方的相向面(36f)供给空气，就能够至少使附着于相向面(36f)的元件(s)良好地落下。

技术领域

本发明涉及一种进行安装于电路基板的元件的检查的检查装置。

背景技术

在专利文献2、3中记载有具备探测器并通过该探测器的接触来测定元件的电气特性的检查装置。在专利文献1中记载有从两端夹着载置于保持台的元件而测定电气特性的检查装置。在该检查装置中，从送风口部28沿着保持台的V槽供给空气，位于该V槽上的测定后的元件被向导入口部7′输送。并且，不合格品被废弃，合格品被用于向电路基板安装。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特公昭52-30703号公报

专利文献2：日本实开平1-76100号公报

专利文献3：国际公开第2014/155657小册子

发明内容

发明所要解决的课题

本发明的课题为在能够自动地测定元件的电气特性的检查装置中，在电气特性的测定后，使元件良好地从测定件落下。

用于解决课题的技术方案、作用及效果

本发明的检查装置包括：一对测定件，能够彼此接近或离开，且能够把持元件来测定电气特性；及空气供给装置，向一对测定件的彼此相向的一对相向面的至少一方供给空气。只要通过空气供给装置向至少一方的相向面供给空气，就能够使附着于相向面的元件良好地落下。

附图说明

图1是包括本发明的一实施方式的检查装置的安装机的立体图。

图2是上述检查装置的主要部分的立体图

图3是上述检查装置的主要部分的剖视图。

图4是上述检查装置的局部俯视图。

图5是上述检查装置所包含的空气电路图。

图6是概念性地表示上述安装机的控制装置的图。

图7的(a)是表示存储于上述控制装置的存储部的LCR测定程序的流程图。图7的(b)是在上述检查装置中测定LCR的情况下的时序图。

图8是表示存储于上述控制装置的存储部的元件合适与否判定程序的流程图。

图9是表示上述检查装置的工作的图。图9的(a)是表示初始状态的图，图9的(b)是表示夹持状态的图，图9的(c)是表示测定状态的图，图9的(d)是表示废弃状态的图。

图10是上述检查装置的从与图2不同的角度观察的立体图。

具体实施方式

以下，基于附图详细地说明包括本发明的一实施方式的检查装置的安装机。

图1所示的安装机是将元件向电路基板安装的装置，包括装置主体2、电路基板搬运保持装置4、元件供给装置6及头移动装置8等。